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J-GLOBAL ID:201602279465068137   整理番号:16A0697972

加速ストレス試験下での大電力LEDの光束維持に及ぼすシリコン量の影響研究【Powered by NICT】

Effect study of silicone amount on the lumen maintenance of high power LED under accelerated stress test
著者 (6件):
資料名:
巻: 2016  号: ITherm  ページ: 836-840  発行年: 2016年 
JST資料番号: W2441A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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著者らの以前の研究では,高加速ストレス試験(HAST)による高出力発光ダイオード(HPLEDs)の信頼性に及ぼす様々な包装材料(シリコーンと蛍光体層)の影響を調べた。実験結果は,LED試料の光束維持特性はパッケージにおけるシリコーン量に依存性を有することを示した。本論文では,著者らはさらにHAST下で光束維持に及ぼすシリコン量の影響を調べた。シリコーン量により指定されたLED試料の五カテゴリーを調製し,その温度は125°Cに設定した等温チャンバーに供した。オンライン試験システムを用いて,実験プロセス中に実時間で光出力を監視し,記録した。400時間の時効後,最大減衰範囲は6.17%に達し,異なるグループは異なる分解挙動を示した。指数関数的減衰モデルは,各光束維持率曲線の減衰率を計算するために採用した。パッケージモジュール内部シリコーン量が変化する減衰速度は異なっていた。この現象はうまく説明とモンテカルロ光線追跡シミュレーションを説明を検証した。シリコーン量と温度の両方の相互作用効果も見出され,さらなる研究のために実施する必要がある多くの研究。Copyright 2016 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】
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分類 (2件):
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信号理論  ,  パターン認識 

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