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J-GLOBAL ID:201602283236019073   整理番号:16A1257464

垂直ホットウォールCVDにおける4H-SiC膜の塩化物高速ホモエピタキシャル成長【Powered by NICT】

Chloride-based fast homoepitaxial growth of 4H-SiC films in a vertical hot-wall CVD
著者 (9件):
資料名:
巻: 37  号:ページ: 063001_01-063001_06  発行年: 2016年 
JST資料番号: C2377A  ISSN: 1674-4926  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 中国 (CHN)  言語: 英語 (EN)
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4H-SiCエピ層の塩化物高速ホモエピタキシャル成長をH_2SiH_4C_2H_4HClを用いた自家製垂直ホットウォール化学蒸着(CVD)系で4°斜軸4H-SiC基板上に行った。4H-SiCエピ層の成長速度に及ぼすSiH_4/H_2比と反応器圧力の影響を連続的に研究した。成長速度はSiH_4/H_2比に比例して増加し,塩素の影響機構を検討した。反応器圧力を40から100Torrに増加に伴って,成長速度は52μm/hに増加し,その後47μm/hまで減少し,これはH_2とH Clエッチングの結合効果だけでなく,高い反応器圧力でのSiクラスタの形成に起因した。表面根平均二乗(RMS)粗さは約1nm成長速度49μmに増加を続けている。走査電子顕微鏡(SEM),Raman分光法,X線回折(XRD)は,高結晶品質の厚さとドーピングの良好な均一性の96.7μm厚い4H-SiC層を達成できることを示した。これらの結果は,塩化物ベースの高速エピタクシー4H-SiCホモエピタクシーのための高度な成長技術であることを証明した。Data from the ScienceChina, LCAS.【Powered by NICT】
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分類 (9件):
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塩基,金属酸化物  ,  モルタル,コンクリート  ,  石油精製一般  ,  固体デバイス材料  ,  合成鉱物  ,  炭素とその化合物  ,  酸化物の結晶成長  ,  固体の製造・処理一般  ,  電気めっき 

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