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J-GLOBAL ID：201702211056183614   整理番号：17A0668297

サービス高齢者シリコーンゴム絶縁体のチョーキング防止の老化機構【Powered by NICT】

The aging mechanisms of chalking service-aged silicone rubber insulators

著者 (5件)： Li Tianhua (School of Electrical Engineering and Information, Sichuan University, Chengdu, China) ,  Zhou Kai (School of Electrical Engineering and Information, Sichuan University, Chengdu, China) ,  Yang Di (School of Electrical Engineering and Information, Sichuan University, Chengdu, China) ,  Tao Wenbiao (School of Electrical Engineering and Information, Sichuan University, Chengdu, China) ,  Chen Zelong (School of Electrical Engineering and Information, Sichuan University, Chengdu, China)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2016  号： ICHVE  ページ： 1-5  発行年： 2016年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： グリッドにおける老朽化したシリコーンゴム絶縁体の絶縁状態を評価するために,白亜及び白亜シリコーンゴム碍子で老朽化したの疎水性,赤外スペクトル(IR)及び走査電子顕微鏡(SEM)を測定しなかった。結果は,稼働で老朽化したシリコーンゴム碍子を白亜チョーキングシリコーンゴム絶縁体よりもより大きな疎水性を持たないことを示した。シリコーンゴム絶縁体の微細構造変化は,それぞれ,赤外スペクトル(IR)及び走査電子顕微鏡(SEM)により分析した。IRの結果は,稼働で老朽化した白亜化シリコーンゴム碍子は白亜化シリコーンゴム絶縁体以上の主鎖フラグメンテーションとメチル基損失を持つことを示した。一方,ACまたはDC電圧下で絶縁体を白亜のIR結果は類似していた。SEMの結果は,白亜化絶縁体の類似した微細構造を示した。交流または直流電圧下での複合絶縁体を白亜時効機構は類似しており,それは,稼働で老朽化したシリコーンゴム絶縁体の同じ表面トポグラフィーをもたらした。,稼働で老朽化したゴム碍子に対して種々の電圧下で時効処理したにもかかわらず,類似しているIRとSEMの結果。は両表面上の微細構造変化を,シリコーン分子の移動度のために,稼働で老朽化した白亜化シリコーンゴム絶縁体は良好な疎水性に保つことができる。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： *シリコーンゴム ,  走査電子顕微鏡 ,  *ポリシロキサン ,  碍子 ,  時効 ,  微細構造 ,  移動度 ,  直流電圧 ,  疎水性 ,  フラグメンテーション ,  老朽化 ,  *絶縁体 ,  赤外スペクトル
準シソーラス用語： メチル基 ,  *シリコーンゴム絶縁体 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 固-液界面  (CB12050B) ,  多糖類  (CF10054P)

タイトルに関連する用語 (5件)： サービス ,  高齢者 ,  シリコーンゴム絶縁体 ,  チョーキング ,  老化