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J-GLOBAL ID：201702213181258064   整理番号：17A0888892

Intersilアナログと電力管理部品のはじき出し損傷試験【Powered by NICT】

Displacement Damage Testing of Intersil Analog and Power Management Parts

著者 (5件)： van Vonno N. W. ,  Scott K. A. ,  Pearce L. G. ,  Gill J. S. ,  Ballou F.
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2016  号： NSREC  ページ： 1-8  発行年： 2016年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： Intersil電力管理とアナログ部品の範囲,演算増幅器,電圧基準,線形電圧調整器,コンパレータ,電力MOSFETドライバ,パルス幅変調器,アナログスイッチとプロセッサ監視回路の1MeV等価中性子照射を用いた変位損傷試験の結果を報告した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 演算プロセッサ ,  演算増幅器 ,  コンパレータ ,  *アナログ系 ,  中性子照射 ,  電圧 ,  *電力管理 ,  線形性 ,  PWM【信号】 ,  *はじき出し損傷 ,  電圧調整器
準シソーラス用語： パワーMOSFET , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 増幅回路  (NC05040U)

タイトルに関連する用語 (4件)： アナログ ,  電力管理 ,  はじき出し損傷 ,  試験