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J-GLOBAL ID：201702213494259560   整理番号：17A0144604

CMOS偏光イメージセンサのための新しいマイクロ偏光子アレイパターン【Powered by NICT】

Novel micro-polarizer array patterns for CMOS polarization image sensors

著者 (4件)： Zhao Xiaojin (American University of Ras Al-Khaimah, Ras Al-Khaimah, U.A.E.) ,  Lu Xin (Shenzhen University, Shenzhen 518060 China) ,  Abubakar Abubakar (American University of Ras Al-Khaimah, Ras Al-Khaimah, U.A.E.) ,  Bermak Amine (Hamad Bin Khalifa University, CSE College, Qatar)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2016  号： ICEDSA  ページ： 1-4  発行年： 2016年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本論文では,分裂の焦点面偏光計(DoFP)に基づく偏光イメージングのための二つの新しい「準Bayer」微小偏光子(MP)パターンを示した。四種類の微小偏光子を持つ伝統的な等しく重みづけMPパターンと比較して,「準Bayer」パターンはフォトリソグラフィーベース選択的エッチング段階を必要とし,MPアレイの製作複雑さの有意な減少をもたらした。さらに,主流双線形補間アルゴリズムのための,三微小偏光子を提案した「準Bayer」パターンは0.43%の最低平均二乗誤差(MSE)を示した。さらに,「準Bayer」パターンは固定照明レベルだけでなく,異なる照明レベルの利点を取る。報告された実験結果は,13luxから213luxへの入力光強度を変化させることにより「準Bayer」パターンの有効性を検証した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 偏光計 ,  エッチング ,  *イメージセンサ ,  照度基準 ,  アルゴリズム ,  画像処理 ,  *偏光子 ,  重みづけ ,  *偏光 ,  *CMOS
準シソーラス用語： 光強度 ,  平均二乗誤差 ,  線形補間 ,  焦点面 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (3件)： 光学情報処理  (BD03060T) ,  光デバイス一般  (BD06010L) ,  固体デバイス製造技術一般  (NC03030V)

タイトルに関連する用語 (5件)： CMOS ,  偏光 ,  イメージセンサ ,  偏光子 ,  アレイパターン