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J-GLOBAL ID：201702216147195069   整理番号：17A0734960

光学素子の欠陥が,ブーストのビーム品質に及ぼす影響を検討した。【JST・京大機械翻訳】

Effects on beam quality of booster stage induced by ”defects” on optics

著者 (8件)： Zhou Lidan (Research Center of Laser Fusion,CAEP) ,  Su Jingqin (Research Center of Laser Fusion,CAEP) ,  Liu Lanqin (Research Center of Laser Fusion,CAEP) ,  Wang Wenyi (Research Center of Laser Fusion,CAEP) ,  Wang Fang (Research Center of Laser Fusion,CAEP) ,  Mo Lei (Research Center of Laser Fusion,CAEP) ,  Li Ping (Research Center of Laser Fusion,CAEP) ,  Zhang Xiaomin (Research Center of Laser Fusion,CAEP)
資料名： Qiangjiguang yu Lizishu  (Qiangjiguang yu Lizishu)
巻： 21  号： 3  ページ： 326-330  発行年： 2009年 
JST資料番号： C2482A  ISSN： 1001-4322  CODEN： QYLIEL  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 中国語 (ZH)

抄録/ポイント： 光学部品の欠陥は高出力固体レーザ装置の負荷能力の向上を制約する。統計的観点から振幅変調の欠陥モデルを構築し、- IIIプロトタイプ装置のブースト増幅レベルに対して、「欠陥」分布の統計パラメータとビーム近接場の質量の関係を分析し、一般的な法則を得た。結果により、「欠陥」の総密度の増加とべき指数の減少はいずれもシステムの出力光の中の高周波成分を増加させ、ビームの近接場の品質が悪くなることを示した。総密度の変化により、高周波成分の変化の振幅がほぼ等しくなり、周波数間の相対比重がほぼ一定であり、べき乗指数の変化は各周波数間の相対比重の変化を引き起こす。一定の範囲内で、「欠陥」サイズが大きいほど近接場の品質に対する影響が深刻である。段階に対して、部品の「欠陥」の総密度を600CM~(-2)以下に制御し、べき指数を2.5以上に制御する必要がある。研究結果は部品の損傷リスクを低減し、システムの運行負荷を高めるために参考を提供することができる。Data from the ScienceChina, LCAS. Translated by JST【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *品質 ,  固体レーザ ,  近接場 ,  *光学素子 ,  周波数 ,  比重 ,  振幅変調 ,  プロトタイプ
準シソーラス用語： 高周波成分 ,  高出力 ,  光学部品 ,  *ビーム品質 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (6件)： high power solid-state laser ,  optical components ,  ”defects” ,  beam quality ,  booster amplification ,  statistical model

分類 (1件)： 半導体レーザ  (BD04070L)

タイトルに関連する用語 (3件)： 光学素子 ,  欠陥 ,  ビーム品質