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J-GLOBAL ID：201702216330911866   整理番号：17A0354328

ISFETアレイ統合検出システムの読み出し回路設計に適用した。【JST・京大機械翻訳】

Design for Readout Circuit of ISFET Array Integrated Test System

著者 (9件)： Hu Hongyang (Department of Microelectronics, College of Electronic Information and Optical Engineering, Nankai University, Key Laboratory of Microelectronics Devices and Integrated Technology, Chinese Academy Sciences) ,  Bi Jinshun (Key Laboratory of Microelectronics Devices and Integrated Technology, Institute of Microelectronics of Chinese Academy Sciences) ,  Li Zhengping (Department of Microelectronics, College of Electronic Information and Optical Engineering, Nankai University) ,  Li Yunxiao (Department of Microelectronics, College of Electronic Information and Optical Engineering, Nankai University) ,  Shi Cong (Department of Microelectronics, College of Electronic Information and Optical Engineering, Nankai University) ,  Zhao Shuang (Department of Microelectronics, College of Electronic Information and Optical Engineering, Nankai University) ,  Jin Hu (Department of Microelectronics, College of Electronic Information and Optical Engineering, Nankai University) ,  Niu Wencheng (Department of Microelectronics, College of Electronic Information and Optical Engineering, Nankai University) ,  Yue Zhao (Department of Microelectronics, College of Electronic Information and Optical Engineering, Nankai University, Tianjin Key Laboratory of Photoelectric Sensor and Sensor Network Technology)
資料名： Nankai Daxue Xuebao. Ziran Kexue Ban  (Nankai Daxue Xuebao. Ziran Kexue Ban)
巻： 49  号： 6  ページ： 69-73,079  発行年： 2016年 
JST資料番号： C2963A  ISSN： 0465-7942  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 中国語 (ZH)

抄録/ポイント： ISFET(ION SENSITIVE FIELD EFFECT TRANSISTORS)はCMOSプロセスと互換性があるイオン敏感電界効果トランジスタである。センサアレイの集積度の増加とともに,応答速度,電力消費およびコストの限界のため,単一ISFETの検出回路は,大規模統合の検出システムには適していない。集積化の観点から、複数の読み出し回路を分析した上で、それぞれの性能特徴を比較し、1種類のパルス幅調節読み出し回路を得て、消費電力、変換速度と構造において優位性があり、大規模なISFETセンサアレイのデータ読み取りに適している。回路の性能を検証するために離散を使用し,FPGAにより読み出し回路の出力データを収集し,良好な安定性と実現可能性を検証した。Data from the ScienceChina, LCAS. Translated by JST【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 互換性 ,  電力消費 ,  データ読取 ,  FET【トランジスタ】 ,  FPGA ,  センサアレイ ,  パルス幅 ,  *ISFET ,  消費電力
準シソーラス用語： 検出回路 ,  応答速度 ,  CMOSプロセス ,  *読出回路 ,  *検知システム , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (4件)： ISFET sensor ,  pH measurement ,  Readout circuit ,  FPGA

分類 (4件)： 計測機器一般  (AD02000X) ,  トランジスタ  (NC03070N) ,  酸塩基平衡  (CB04020D) ,  AD・DA変換回路  (NC05080M)

タイトルに関連する用語 (6件)： ISFET ,  アレイ ,  統合 ,  検出システム ,  読み出し回路 ,  設計