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J-GLOBAL ID:201702218073813592   整理番号:17A0169216

MG_2SI/ALヘテロ接合の調製とI-V特性の研究【JST・京大機械翻訳】

Fabrication and I-V characterization of Mg_2Si/Si heterojunction
著者 (7件):
資料名:
巻: 47  号:ページ: 9091-9094  発行年: 2016年 
JST資料番号: C2095A  ISSN: 1001-9731  CODEN: GOCAEA  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 中国 (CHN)  言語: 中国語 (ZH)
抄録/ポイント:
抄録/ポイント
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マグネトロンスパッタリングと熱処理システムを用いて,MG_2SI/ALヘテロ接合を調製した。まず,N-SI(111)基板上にMG膜を堆積させ,熱処理によりMG_2SI/SIヘテロ接合を得た。MG_2SI/ALヘテロ接合の結晶構造,表面形態,MG_2SI薄膜の厚さ,I-V特性,および導電性を,XRD,SEM,表面メータ,ボルタンメトリー,およびHALL効果試験装置を用いて研究した。その結果,MG_2SI/ALヘテロ接合が成功裏に調製され,平均キャリア濃度(-9.30×10(12)CM(-3)),ターンオン電圧(0.31V),ターンオン電流(0.6MA),動作電圧(0.53V)が得られた。このヘテロ接合はN-N型であった。Data from the ScienceChina, LCAS. Translated by JST【JST・京大機械翻訳】
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, 【Automatic Indexing@JST】
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酸化物薄膜 
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