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J-GLOBAL ID:201702218815335408   整理番号:17A0124057

設計とSSRFにおけるフルフィールドX線ナノイメージングシステム【Powered by NICT】

Full-field x ray nano-imaging system designed and constructed at SSRF
著者 (8件):
資料名:
巻: 14  号:ページ: 093401-01-093401-05  発行年: 2016年 
JST資料番号: C2637A  ISSN: 1671-7694  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 中国 (CHN)  言語: 英語 (EN)
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フルフィールドX線ナノイメージング(FXNI)は,ナノスケールでの試料の内部構造のその場,非破壊観察のための最も強力なツールの一つである。第三世代シンクロトロン放射施設の高磁束密度のために,FXNIとその応用のための達成された大きな進歩。これまで,FXNIのための20nmの空間分解能を達成した。上海シンクロトロン放射施設(SSRF)x線イメージングビームラインで年間ユーザ操作経験に基づいて,多くのユーザ実験は広範囲の空間分解能と視野(FOV)に依存する。特に,大きいFOVでX線顕微鏡と約100nmの中程度の空間分解能は多くの研究分野で広い範囲の用途を有する。ユーザ要求によって駆動されて,専用FXNIシステムはSSRFで設計し,構築した。顕微鏡はビーム成形器とゾーンプレートに基づく,8 10keVに設定最適化作業エネルギー範囲であった。シーメンスのスター-パターンによる実験結果は,100nmの空間分解能を達成したが,50μmのFOVが得られることを実証した。Data from the ScienceChina, LCAS. Translated by JST【Powered by NICT】
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, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (1件):
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X線技術 
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