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J-GLOBAL ID：201702220148016969   整理番号：17A0364700

TEMによって研究した高フラックスプラズマ照射後の単結晶および多結晶タングステンの表面下微細構造【Powered by NICT】

Sub-surface microstructure of single and polycrystalline tungsten after high flux plasma exposure studied by TEM

著者 (10件)： Dubinko A. (Institute for Nuclear Material Sciences, SCK CEN, 2400 Mol, Belgium) ,  Dubinko A. (Department of Applied Physics, Ghent University, 9000 Ghent, Belgium) ,  Terentyev D. (Institute for Nuclear Material Sciences, SCK CEN, 2400 Mol, Belgium) ,  Bakaeva A. (Institute for Nuclear Material Sciences, SCK CEN, 2400 Mol, Belgium) ,  Bakaeva A. (Department of Applied Physics, Ghent University, 9000 Ghent, Belgium) ,  Hernandez-Mayoral M. (Division of Materials, CIEMAT, 28040 Madrid, Spain) ,  De Temmerman G. (ITER Organization, Route de Vinon-sur-Verdon, CS 90 046, 13067 St Paul-lez-Durance Cedex, France) ,  Buzi L. (Forschungszentrum Julich, Inst. Energie & Klimaforsch Plasmaphys, D-52425 Julich, Germany) ,  Noterdaeme J.-M. (Department of Applied Physics, Ghent University, 9000 Ghent, Belgium) ,  Unterberg B. (Forschungszentrum Julich, Inst. Energie & Klimaforsch Plasmaphys, D-52425 Julich, Germany)
資料名： Applied Surface Science  (Applied Surface Science)
巻： 393  ページ： 330-339  発行年： 2017年 
JST資料番号： B0707B  ISSN： 0169-4332  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 透過型電子顕微鏡(TEM)法を用いてタングステンとその後の微細組織特性の高フラックスプラズマ照射を行った。目的は,サブ表面領域中のナノメータ特徴を明らかにしただけでなく,タングステン単結晶とITER関連仕様における微細構造変化を比較することであった。両タイプの試料では,TEM観察から,密な転位ネットワークおよび転位のもつれの形成を明らかにした。表面下領域で推定した転位密度は10~14m~ 2程度であり,検討した試料の深さ位置と共に徐々に減少した。個々の転位線,ネットワークともつれに加えて,格子間転位ループは曝露後にのみ測定したすべての試料で観察された。それに反して,元の単結晶Wの検討とプラズマ曝露試料の裏面は転位ループとのもつれの存在を明らかにしなかった。これは高フラックスプラズマ照射は初期転位と亜結晶粒の存在に関係なく表面下領域における深刻な塑性変形を誘導することを明らかに証明し,転位もつれ,ネットワークと格子間ループの形成は熱応力と集中プラズマ粒子取込の副産物である。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： 転位網 ,  *単結晶 ,  亜結晶粒 ,  透過型電子顕微鏡 ,  転位密度 ,  *多結晶 ,  塑性変形 ,  ネットワーク ,  *タングステン ,  熱応力 ,  *プラズマ曝露 ,  転位ループ ,  *微細構造 ,  *プラズマ
準シソーラス用語： 透過型電子顕微鏡法 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (4件)： 高流束プラズマ ,  タングステン ,  単結晶 ,  転位

分類 (4件)： 金属の放射線による構造と物性の変化  (BK16122N) ,  金属の表面構造  (BK15020P) ,  酸化物薄膜  (BK14050P) ,  固体デバイス製造技術一般  (NC03030V)

タイトルに関連する用語 (8件)： TEM ,  研究 ,  フラックス ,  プラズマ照射 ,  単結晶 ,  多結晶 ,  タングステン ,  微細構造