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J-GLOBAL ID：201702221721754003   整理番号：17A0749540

超臨界レンズ光ラベルフリー顕微鏡検査法:サブ回折分解能と超長作動距離【Powered by NICT】

A Supercritical Lens Optical Label-Free Microscopy: Sub-Diffraction Resolution and Ultra-Long Working Distance

著者 (7件)： Qin Fei (Department of Electrical and Computer Engineering, National University of Singapore, 4 Engineering Drive 3, Singapore, 117583, Singapore) ,  Huang Kun (Institute of Materials Research and Engineering, Agency for Science Technology and Research (A*STAR), 2 Fusionopolis Way, Innovis, #08-03, Singapore, 138634, Singapore) ,  Wu Jianfeng (Department of Electrical and Computer Engineering, National University of Singapore, 4 Engineering Drive 3, Singapore, 117583, Singapore) ,  Wu Jianfeng (Department of Physics, National University of Singapore, 2 Science Drive 3, Singapore, 117542, Singapore) ,  Teng Jinghua (Institute of Materials Research and Engineering, Agency for Science Technology and Research (A*STAR), 2 Fusionopolis Way, Innovis, #08-03, Singapore, 138634, Singapore) ,  Qiu Cheng-Wei (Department of Electrical and Computer Engineering, National University of Singapore, 4 Engineering Drive 3, Singapore, 117583, Singapore) ,  Hong Minghui (Department of Electrical and Computer Engineering, National University of Singapore, 4 Engineering Drive 3, Singapore, 117583, Singapore)
資料名： Advanced Materials  (Advanced Materials)
巻： 29  号： 8  ページ： ROMBUNNO.201602721  発行年： 2017年 
JST資料番号： W0001A  ISSN： 0935-9648  CODEN： ADVMEW  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： ドイツ (DEU)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 遠視野における超分解能イメージングを達成するための平面メタレンズを提案した。非サブ波長特徴サイズを持つ,このメタレンズは通常のレーザパターン発生器により作製することができた。イメージング過程を実時間で純粋に物理的および捕獲であり,あらゆる前・後処理はなかった。Copyright 2017 Wiley Publishing Japan K.K. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： *回折 ,  画像処理 ,  *超臨界 ,  *分解能 ,  サブ波長 ,  *レンズ ,  後処理 ,  レーザ ,  *顕微鏡検査 ,  遠視野
準シソーラス用語： 実時間 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (5件)： 遠方場 ,  無標識 ,  光学イメージング ,  平面レンズ ,  超解像

分類 (3件)： 光デバイス一般  (BD06010L) ,  光学器械要素とその材料  (QF05020K) ,  固体デバイス製造技術一般  (NC03030V)

タイトルに関連する用語 (8件)： 超臨界 ,  レンズ ,  光ラベル ,  顕微鏡検査 ,  サブ ,  回折 ,  分解能 ,  作動距離