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J-GLOBAL ID：201702222018971804   整理番号：17A0797082

集積回路設計空間解析とベンチマークスイートのためのパターン分類におけるICCAD2016CADコンテスト【Powered by NICT】

ICCAD-2016 CAD contest in pattern classification for integrated circuit design space analysis and benchmark suite

著者 (1件)： Topaloglu Rasit O. (IBM, Hopewell Junction, NY, United States)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2016  号： ICCAD  ページ： 1-4  発行年： 2016年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： レイアウトパターン分類は設計空間解析,設計ルール生成,および系統的歩留り最適化のような種々の目標に向かって集積回路設計における近年に利用されている。非常に限られたベンダーはこの機能を提供するために入手可能なオープンソースまたは学術溶液が必要である。スピードと精度は溶液中のターゲットへの重要な側面である。回路レイアウトと各種マーカーを考えると,問題となる点はこれらのマーカーの周辺の代表的なレイアウトクリップの縮小セットを提供するために求められている。各このような代表的なクリップはクラスを同定し,1つ以上の特徴的レイアウトマーカーのセットを有している。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： *コンクール ,  *パターン分類
準シソーラス用語： 設計規則 ,  *空間解析 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 計算機システム開発  (JD02010R) ,  ディジタル計算機方式一般  (JC02010O)

タイトルに関連する用語 (4件)： 集積回路設計 ,  空間解析 ,  パターン分類 ,  コンテスト