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J-GLOBAL ID：201702222072508614   整理番号：17A0162569

ショットキーとフタロシアニンの間の界面線量の増強係数のシミュレーションを行った。【JST・京大機械翻訳】

Simulation of X-ray Dose Enhancement Factor at Schottky and TiOPc Interface

著者 (2件)： Zhang Jianfang (College of Physics and Electronic Information, Inner Mongolia University for Nationalities,Tongliao) ,  Bao Tmurbagen (College of Physics and Electronic Information, Inner Mongolia University for Nationalities,Tongliao)
資料名： Guti Dianzixue Yanjiu yu Jinzhan  (Guti Dianzixue Yanjiu yu Jinzhan)
巻： 36  号： 5  ページ： 374-376,418  発行年： 2016年 
JST資料番号： C2084A  ISSN： 1000-3819  CODEN： GDYJE2  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 中国語 (ZH)

抄録/ポイント： モンテカルロ法を用いて,SCHOTTKY-TIOPC-SCHOTTKY界面における異なるエネルギーのX線の線量増強係数(H.PYLORI)とショットキー(SCHOTTKY)とフタロシアニン(TIOPC)の厚さの関係を計算した。その結果,界面でのH.PYLORIの厚さは,TIOPC厚さの増加とともに増加し,SCHOTTKY厚さの増加とともに減少した。SCHOTTKY-TIOPC-SCHOTTKY二層構造とSCHOTTKY-TIOPC-SCHOTTKY二重層の構造を,SCHOTTKY-TIOPC-SCHOTTKY構造によってシミュレーションした。界面での用量増強効果はより顕著であった。また、異なる角度からSCHOTTKY-TIOPCデバイスを照射した場合、界面におけるDEFの変化状況を研究したが、0°の場合は90°の場合が最も小さかった。Data from the ScienceChina, LCAS. Translated by JST【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： X線 ,  *界面 ,  *放射線量 ,  モンテカルロ法 ,  大環状化合物 ,  窒素複素環化合物 ,  架橋化合物 ,  芳香族縮合化合物
準シソーラス用語： 二重層 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (5件)： X-ray ,  Schottky ,  dose enhancement factor ,  Monte Carlo method(MCNP) ,  TiOPc

分類 (1件)： 圧電デバイス  (NC03110I)

物質索引 (1件)： フタロシアニン

タイトルに関連する用語 (8件)： ショット ,  キー ,  フタロシアニン ,  界面 ,  線量 ,  増強 ,  係数 ,  シミュレーション