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J-GLOBAL ID：201702229109002253   整理番号：17A0057280

新規診断テスト生成法とその応用生産故障分離【Powered by NICT】

A novel diagnostic test generation methodology and its application in production failure isolation

著者 (8件)： Amyeen M. Enamul (Intel Corporation, Hillsboro, OR 97124) ,  Kim Dongok (Intel Corporation, Hillsboro, OR 97124) ,  Chandrasekar Maheshwar (Intel Corporation, Santa Clara, CA 95054) ,  Noman Mohammad (Intel Corporation, Hillsboro, OR 97124) ,  Venkataraman Srikanth (Intel Corporation, Hillsboro, OR 97124) ,  Jain Anurag (Intel Corporation, Santa Clara, CA 95054) ,  Goel Neha (Intel Corporation, Santa Clara, CA 95054) ,  Sharma Ramesh (Intel Corporation, Santa Clara, CA 95054)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2016  号： ITC  ページ： 1-10  発行年： 2016年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 市場への収率ランプと生成物時間を製造するための重要である高速故障分離。高い診断分解能は速い欠陥分離と根本原因同定に必須である。検出テストセットは,故障検出率を目的としており,最大診断分解能を提供しない。本論文では,工業規模設計のための技術診断ATPGツールの状態の設計とアーキテクチャを提案した。初診容疑者を識別するために決定論的診断試験含量を生成する新規診断テスト生成法を開発した。記憶が利用できるならば,含有量を増加させるために生成される付加的なN検出配向試験。さらに,工業規模設計のための診断故障シミュレーションの性能を改善するための技法を提案した。Intel(R)CoreTMマイクロプロセッサ設計の実験結果は2×メモリオーバヘッドをまでと3X 114X速度まで示した。ソートウエハ失敗で収集したシリコン故障データは,産業標準診断試験発生器から発生した含有量と比較した場合,2.8×3×による診断分解能を向上させる上でのハイブリッド診断含量の有効性を示した。シリコン結果はIntel(R)CoreTMマイクロプロセッサ上で評価した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： マイクロプロセッサ ,  故障検出 ,  高速度 ,  ケイ素 ,  分解能 ,  *故障 ,  計算機アーキテクチャ
準シソーラス用語： 再生器 ,  故障シミュレーション ,  決定論 ,  ATPG ,  *故障隔離 ,  *テスト生成 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (3件)： 診断テスト ,  応用 ,  故障分離