文献

J-GLOBAL ID：201702233270490201   整理番号：17A0239313

SCHIFI:スケーラブルで柔軟な高性能FPGAを用いた故障注入器【Powered by NICT】

SCHIFI: Scalable and flexible high performance FPGA-based fault injector

著者 (5件)： Sau Suman (LIRMM CNRS-UM) ,  Kooli Maha (LIRMM CNRS-UM) ,  Di Natale Giorgio (LIRMM CNRS-UM) ,  Bosio Alberto (LIRMM CNRS-UM) ,  Chakrabarti Amlan (University of Calcutta)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2016  号： DCIS  ページ： 1-4  発行年： 2016年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 最新技術のダウンスケーリングの結果の一つは,ディジタル回路物理的製造欠陥,環境擾乱(例えば,放射線,電磁干渉),または加齢関連現象によって引き起こされた故障によって影響を受けるしやすいことである。ディジタル回路に影響を及ぼす欠陥の存在において全系の挙動は,フォールトトレランス技術の設計と検証のための重要である。故障注入は誤差が存在する場合のシステムの挙動を評価するためによく知られており広く用いられる手法である。種々の技術の中で,シミュレーションとハードウェアベースの故障注入器と比較して,低コスト,迅速で正確な方法を可能にするので,FPGAベースの故障注入は最も一般的な方法の一つである。本論文では,与えられたシステムのメモリ階層における注入できる柔軟なFPGA故障注入器を提示した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 放射線 ,  記憶階層 ,  電磁干渉 ,  フォールトトレランス ,  ディジタル回路 ,  *FPGA
準シソーラス用語： *故障注入 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (4件)： 高性能 ,  FPGA ,  故障 ,  注入器