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J-GLOBAL ID:201702234067152602   整理番号:17A0889681

ソフトウェア試験における産業学界の協力:TAIC第2017部の概要【Powered by NICT】

Industry-Academia Collaboration in Software Testing: An Overview of TAIC PART 2017
著者 (3件):
資料名:
巻: 2017  号: ICSTW  ページ: 42-43  発行年: 2017年 
JST資料番号: W2441A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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ソフトウェアテストにおける産業界と学界との協力は産業における改善と革新をもたらし,それは移行可能であり,経験的に評価した結果を達成するための基本である。TAICの目的は,実世界ソフトウェア試験のやりがいがありエキサイティングな問題に関する産業界および学界の間の共同作業を鍛造することである。研究会は,産業界及び学界の双方の代表により促進され,ソフトウェアテストの理論と実際に働く研究者と産業用ソフトウェア技術者および試験者をもたらしている。試験:産学協働,実際と研究技術(TAIC PART 2017)とその寄与に関する第十二回ワークショップの概観を示した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】
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