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J-GLOBAL ID:201702235748143091   整理番号:17A0329327

CNT TFETのゲート誘電体強度に依存する性能:タイトバインディング研究【Powered by NICT】

Gate dielectric strength dependent performance of CNT TFET: A tight binding study
著者 (4件):
資料名:
巻: 2016  号: ICCIT  ページ: 159-163  発行年: 2016年 
JST資料番号: W2441A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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本論文では,ゲート酸化物材料の異なる誘電強度を考慮に入れたCNT TFETの性能の詳細な研究を提示した。ここでは,伝達特性,オン/オフ電流比(Ion/Ioff),密着結合骨格における非平衡グリーン関数(NEGF)形式を用いたデバイスのサブしきい値勾配を調べた。結果はNanoTCAD ViDES環境における自己無撞着NEGFとPoisson方程式を解くことにより得られ,CNT TFETの性能にゲート酸化物誘電体強度の興味ある依存性を持つことが分かった。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】
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トランジスタ 
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