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J-GLOBAL ID:201702239729007172   整理番号:17A0062379

異なる干渉計による光学素子のパワースペクトル密度の比較を行った。【JST・京大機械翻訳】

Comparison Among Different Interferometers for Measuring Power Spectral Density of Optical Elements
著者 (4件):
資料名:
巻: 43  号:ページ: 0904002_01-0904002_08  発行年: 2016年 
JST資料番号: C5022A  ISSN: 0258-7025  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 中国 (CHN)  言語: 中国語 (ZH)
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中間周波数誤差に対する異なる干渉計の応答法則を検討するために,実際のパワースペクトル密度(PSD)分布を得て,4D ACCUFIZ.ZYGO DYNAFIZおよびZYGO GPIの3つの干渉計を用いて,周期的波形およびスクラッチサンプルを検出した。一次元実測PSD曲線の比較分析を行った。結果により、異なる干渉計は中高周波数情報に対する応答度が異なることが分かった。干渉計の分解能が高いほど,応答度は高い。実際のPSD分布を測定するために,伝達関数(ITF)曲線を用いて,PSD分布を修正した。いくつかの周波数範囲において,キャリブレーション曲線と実際の応答の間には差異が存在した。Data from the ScienceChina, LCAS. Translated by JST【JST・京大機械翻訳】
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, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (1件):
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干渉測定と干渉計 
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