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J-GLOBAL ID：201702242965694881   整理番号：17A0794883

電磁干渉遮蔽応用のためのマイクロ波加工NiMgZnフェライト【Powered by NICT】

Microwave Processed NiMgZn Ferrites for Electromagnetic Intereference Shielding Applications

著者 (3件)： Chandra Babu Naidu Kadiyala (Ceramic Composite Laboratory, Center for Crystal Growth, SAS, VIT University, Vellore, India) ,  Roopas Kiran Sirugudu (Ceramic Composite Laboratory, Center for Crystal Growth, SAS, VIT University, Vellore, India) ,  Madhuri Wuppuluri (Ceramic Composite Laboratory, Center for Crystal Growth, SAS, VIT University, Vellore, India)
資料名： IEEE Transactions on Magnetics  (IEEE Transactions on Magnetics)
巻： 53  号： 2  ページ： ROMBUNNO.2900207.1-7  発行年： 2017年 
JST資料番号： A0339B  ISSN： 0018-9464  CODEN： IEMGAQ  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： Ni_0-1.2Mg-0.8Zn_xFe_2O_4(x=0~0.2,0.4,0.6,および0.8)フェライトをマイクロ波固相反応法により合成した。回折研究は試料の立方晶スピネル構造を確認した。破面を走査電子顕微鏡で解析した。添加では,Xバンド(8.4-12 GHz)電磁干渉(EMI)特性を調べた。NiMgZnフェライト系は9~12dBを変化させる全EMI遮蔽有効性(SE_T),電磁遮蔽用途を提供する。Xバンド周波数の関数として誘電定数(ε~’),損失(ε~’’),透磁率(μ~’),と磁気損失(μ~’’)などの電磁パラメータの変化を明らかにした。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 磁損 ,  破面 ,  周波数 ,  固相反応 ,  走査電子顕微鏡 ,  *電磁干渉 ,  誘電率 ,  回折 ,  *マイクロ波 ,  透磁率 ,  電磁遮蔽 ,  *フェライト
準シソーラス用語： Xバンド ,  スピネル型構造 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 磁性材料  (NA04040H)

タイトルに関連する用語 (5件)： 電磁干渉 ,  遮蔽 ,  応用 ,  マイクロ波 ,  フェライト