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J-GLOBAL ID：201702244854596383   整理番号：17A0133186

光音響・発光同時計測及び時間分解発光計測による窒化物半導体の内部量子効率と輻射・非輻射再結合寿命の測定

Determination of internal quantum efficiency and recombination lifetime by simultaneous photo-acoustic and photoluminescence measurements in GaN

著者 (3件)： 河上航平 (金沢工大 工) ,  中納隆 (金沢工大 工) ,  山口敦史 (金沢工大 工)
資料名： 電子情報通信学会技術研究報告  (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： 116  号： 372(LQE2016 96-104)  ページ： 15-20  発行年： 2016年12月09日 
JST資料番号： S0532B  ISSN： 0913-5685  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 窒化物半導体の内部量子効率は,発光(PL)強度の温度依存性から,極低温における内部量子効率を100%と仮定して,求められることが多い。しかし,欠陥の多い窒化物半導体で,この仮定は必ずしも正しいとは限らない。本研究では,異なる品質のGaNについて,光音響・発光同時計測法によって,正しい内部量子効率を測定した。その結果,質の悪いGaN試料では,従来の方法で正しい内部量子効率が求められないことが明らかとなった。さらに,その結果と時間分解PL測定の結果の両者を用いた解析を行い,従来の方法よりも正確に輻射・非輻射再結合寿命を見積もった。その結果,輻射再結合寿命は温度の1.5乗に比例して増加するのに対し,非輻射再結合寿命はほぼ変化せず,その絶対値は測定試料の品質に依存することがわかった。(著者抄録)

シソーラス用語： 同時計測 ,  *光ルミネセンス ,  化合物半導体 ,  窒化物 ,  インジウム化合物 ,  ガリウム化合物 ,  量子効率 ,  再結合 ,  再結合放射 ,  無放射遷移 ,  寿命 ,  窒化ガリウム

分類 (1件)： 半導体のルミネセンス  (BM08092S)

タイトルに関連する用語 (8件)： 同時計測 ,  分解 ,  計測 ,  窒化物半導体 ,  内部量子効率 ,  輻射 ,  非輻射再結合 ,  寿命