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J-GLOBAL ID:201702245471753454   整理番号:17A0830933

白金めっきけい素上のBaTiO_3薄膜:成長,キャラクタリゼーションおよび抵抗メモリ挙動【Powered by NICT】

BaTiO3 thin films on platinized silicon: Growth, characterization and resistive memory behavior
著者 (16件):
資料名:
巻: 628  ページ: 208-213  発行年: 2017年 
JST資料番号: B0899A  ISSN: 0040-6090  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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Ti/BaTiO_3/Ptメモリスタデバイスの作製と特性評価について報告した。BaTiO_3膜を,種々のレーザパルスエネルギーでパルスレーザ蒸着により白金化シリコン上に成長させた。は作製条件と膜の微細構造と化学量論の存在を証明した。BaTiO_3膜に見出された小さな粒径は構造正方晶歪みを不安定化し,長距離強誘電秩序の出現を阻害することが示唆された。強誘電抵抗スイッチング(RS)の非存在下でも,二種類のRS機構(金属フィラメント形成と酸化/還元Ti上部電極の)は競合し,膜の化学量論と微細構造を制御することにより選択することができることを示した。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】
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酸化物薄膜 

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