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J-GLOBAL ID：201702247240985586   整理番号：17A0240897

シミュレーテッドアニーリングに基づく新しいモデル次数低減法【Powered by NICT】

A novel model order reduction technique based on simulated annealing

著者 (2件)： Mohamed Mohamed Khalifa (Department of Pervasive Computing, Tampere University of Technology, Finland) ,  Mohamed Khaled (Mentor Graphics, Cairo, Egypt)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2016  号： ICM  ページ： 241-244  発行年： 2016年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本論文では,モデル次数低減の分野で新規で効率的な解を提示した。提案した方法は,シミュレーテッドアニーリングと呼ばれる大域的最適化アルゴリズムに依存する。このアプローチは伝達関数として表現された比較的複雑なモデルの次数低減モデルを得ることを目的とした。この減次モデルは,合理的な実行時間で得られ単位ステップ時間応答に代表される時間領域における許容誤差,とモデル次数削減で利用している既存の数学的方法と比較してBodeプロットに代表される周波数領域における最小誤差を有している。本研究は,受動素子の複雑さを減少させるCADツールで使用することができる。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 周波数領域 ,  *シミュレーテッドアニーリング ,  伝達関数 ,  公差 ,  アルゴリズム
準シソーラス用語： 受動素子 ,  時間領域 ,  実行時間 ,  減次モデル ,  大域的最適化 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 数値計算  (JE02000J) ,  回路理論一般  (NA02010M)

タイトルに関連する用語 (3件)： シミュレーテッドアニーリング ,  モデル ,  次数低減