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J-GLOBAL ID：201702247961588963   整理番号：17A0702826

ナノブリッジ試験における接着接触変形【Powered by NICT】

Adhesion contact deformation in nanobridge tests

著者 (3件)： Gao Yao (Shanghai Materials Genome Institute and Shanghai University Materials Genome Institute, Shanghai University, 99 Shangda Road, Shanghai 200444, China. [e-mail]) ,  Shi San-Qiang ,  Zhang Tong-Yi
資料名： Nanoscale  (Nanoscale)
巻： 9  号： 18  ページ： 6033-6040  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2323A  ISSN： 2040-3364  CODEN： NANOHL  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 一次元ナノ材料の機械的性質,特にYoung率,の正確な把握は,フレキシブル電子デバイスと注入した生物医学的センサの設計と安全サービスにおいて重要な役割を果たす。ナノブリッジ試験は,ナノワイヤの機械的性質の特性化に広く用いられている。これらの試験では,試験機として機能する,原子間力顕微鏡(A FM)を用いて,トレンチに懸濁したナノワイヤまたはテンプレートまたは基板上に固定された二端を持つ正孔を曲げる力を発揮する。接着接触変形は,A FMチップと試料の間のナノブリッジ試験中に必然的に生じ,その結果,試験ナノワイヤのYoung率を過小評価と測定したYoung率における擬サイズ効果を引き起こした。本研究を系統的にナノブリッジ試験における接着接触変形を検討し,接触変形を評価し,Young率を決定するための解析的アプローチを提供する。開発された方法論を説明するために,A FMナノブリッジ試験は金ナノワイヤ(180 340nm幅,長い3.6 5.1μmと90nm厚)で実施した。結果は接触変形を考慮した場合,平均Young率は4.63%増加することを示した。実験における接触変形の影響を最小化するためのガイドラインを提示した。さらに,結果は,ナノワイヤのYoung率の実験的に得られたサイズ依存性の変化の可能性のある原因への洞察を提供する。Copyright 2017 Royal Society of Chemistry All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 安全性 ,  一次元 ,  原子間力顕微鏡 ,  サイズ効果 ,  ナノワイヤ ,  ナノ材料 ,  センサ ,  *接着 ,  キャラクタリゼーション ,  機械的性質 ,  *変形 ,  Young率
準シソーラス用語： サイズ依存性 ,  生物医学 ,  *ナノブリッジ , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (4件)： その他の電気・電子部品  (NA05090R) ,  固体の機械的性質一般  (BL01021C) ,  その他の無機化合物の薄膜  (BK14060A) ,  電気化学反応  (CB07050F)

タイトルに関連する用語 (2件)： ナノブリッジ ,  試験