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J-GLOBAL ID:201702250641592577   整理番号:17A0830421

ZnOマイクロワイヤ,薄膜,およびバルク中のCo~2+についての欠陥構造の研究【Powered by NICT】

The investigation of the defect structures for Co2+ in ZnO microwires, thin films and bulks
著者 (5件):
資料名:
巻: 106  ページ: 94-98  発行年: 2017年 
JST資料番号: C0202A  ISSN: 0022-3697  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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ZnOマイクロワイヤ,薄膜,およびバルク中のCo~2+の欠陥構造を,一貫した方法で三方晶系歪んだ四面体3D~7クラスタの電子常磁性共鳴(EPR)パラメータ(零磁場分裂D,g因子,g∥とg⊥および超微細構造定数AとA⊥)を解析することにより理論的に研究した。不純物Co~2+がZnOマイクロワイヤ,薄膜,およびバルクにおけるC_3軸に沿った配位子三角形から離れた変位(約0.046,0.044と0.045Å)を受けることが分かった,これはホスト中のZn~2+サイトの三方晶歪を大幅に低減した。従来の結晶場(CF)機構からの寄与とは別に,電荷移動(CT)機構からの寄与の重要であるとE PR分析に含めるべきである。三ZnO:Co~2+系の欠陥構造とスペクトル特性を議論した。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】
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, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (4件):
分類
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酸化物薄膜  ,  光物性一般  ,  半導体のルミネセンス  ,  酸化物の結晶成長 

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