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J-GLOBAL ID：201702250974036806   整理番号：17A0380434

RTDSに基づくAPFコントローラのシミュレーション技術に関する研究【Powered by NICT】

Study on simulation technology of APF controller based on RTDS

著者 (7件)： Bei Cao (State Grid Jiangxi Electric Power Research Institute, Nanchang, 330096, China) ,  Jiang Yu (State Grid Jiujiang Electric Power Supply Company, Jiangxi 33200, China) ,  Fengxiang Cao (State Grid Jiangxi Electric Power Research Institute, Nanchang, 330096, China) ,  Qingzhao Ji (State Grid Jiangxi Electric Power Research Institute, Nanchang, 330096, China) ,  Guoqiang Xie (State Grid Jiangxi Electric Power Research Institute, Nanchang, 330096, China) ,  Kansheng Yu (State Grid Jiangxi Electric Power Research Institute, Nanchang, 330096, China) ,  Lixia Xiong (State Grid Jiangxi Electric Power Research Institute, Nanchang, 330096, China)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2016  号： IMCEC  ページ： 2053-2061  発行年： 2016年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： パワーエレクトロニクスデバイスの技術検証と試験を効率的に実行するために,提示した,RTDSに基づくAPF制御器閉ループシミュレーションである新しい検査法。RTDSにおけるソフトウェアによるこれらの一次回路のシミュレーション,三相グリッド,負荷そしてAPFインバータブリッジ,直流側コンデンサと遮断器である。APF制御・保護部分は実際の素子の制御パネルを介して行った。RTDS物理的コントローラシミュレーションの標準インタフェイスは5信号調整モジュール,APFコントローラとRTDSソフトウェアモデル間の信号ミスマッチを固定するにより形成される。さらに,RTDS小ステップ環境における全体的なシミュレーションモデルを構築し,コアモジュールのいくつかのモデル化法を示し,IGBTトリガパルス,保護および制御信号論理,RTDSの短絡故障モデル,手術所見界面などを含めて,完全な試験手順と項目の間の関係を確立した。最後に,方法の有効性を,RTDSと実デバイス試験間の試験データの比較分析を通して検証した。パワーエレクトロニクスデバイスの開発と試験を効率的に実現するための新しいアイデアをもたらす。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： モデリング ,  直流 ,  *シミュレーション ,  IGBT ,  コンデンサ ,  不整合 ,  ソフトウェア ,  制御信号 ,  遮断器 ,  *制御装置 ,  シミュレーションモデル ,  配電盤
準シソーラス用語： 比較分析 ,  三相 ,  *シミュレーション技術 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (4件)： APF ,  コントローラ ,  シミュレーション技術 ,  研究