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J-GLOBAL ID：201702252292247145   整理番号：17A0754788

ISO26262ASIL B標準をサポートする16nm FinFET不均一ノナコアSoC【Powered by NICT】

A 16 nm FinFET Heterogeneous Nona-Core SoC Supporting ISO26262 ASIL B Standard

著者 (8件)： Shibahara Shinichi (Renesas System Design Co., Ltd., Tokyo, Japan) ,  Takahashi Chikafumi (Renesas System Design Co., Ltd., Tokyo, Japan) ,  Fukuoka Kazuki (Renesas System Design Co., Ltd., Tokyo, Japan) ,  Kitaji Yuko (Renesas System Design Co., Ltd., Tokyo, Japan) ,  Irita Takahiro (Renesas Electronics Corporation, Tokyo, Japan) ,  Hara Hirotaka (Renesas Electronics Corporation, Tokyo, Japan) ,  Shimazaki Yasuhisa (Renesas Electronics Corporation, Tokyo, Japan) ,  Matsushima Jun (Renesas System Design Co., Ltd., Tokyo, Japan)
資料名： IEEE Journal of Solid-State Circuits  (IEEE Journal of Solid-State Circuits)
巻： 52  号： 1  ページ： 77-88  発行年： 2017年 
JST資料番号： B0761A  ISSN： 0018-9200  CODEN： IJSCBC  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 最近の自動車開発におけるISO26262に必須になってきている。故障を検出するための安全機構の実装はISO26262における鍵の一つである。故障予測は,自動車システムに信頼性を持たせるであろう。SoCは,この論文で二つの特徴:故障予測のための自動車安全度水準(ASIL)B及びキラー低下モニタを支援する安全機構のためのハードウェア組込み自己テスト(BIST)を紹介した。添加では,各試験セッションは応用に必要な割込み応答時間より短いことができるように時間スライシングは,動作中にハードウェアBISTの試験に導入した。キラー低下モニタは,電圧降下を予測し,SoCに遅延故障を防止するための低下を緩和するために,一定期間クロック供給を止めることができる。モニタはCPU動作クロックで時間-ディジタル変換器に基づく電圧をサンプリングし,サンプリング電圧の歴史からの電圧を予測した。予測特徴を用いて,最小動作電圧は,2.02GHz CPU動作で50mVまで改善することができ,最大周波数は16nmプロセスで0.82V電源の下で140MHzにより改善できる。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： ハードウェア ,  周波数 ,  電圧降下 ,  信頼性 ,  *電圧 ,  BIST ,  安全性 ,  予測 ,  応答時間 ,  クロック ,  監視装置 ,  自動車
準シソーラス用語： 故障予知 ,  *自動車の電気/電子に関する機能安全についての国際規格 ,  *システムオンチップ , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 半導体集積回路  (NC03162T)

タイトルに関連する用語 (4件)： 標準 ,  FinFET ,  不均一 ,  SOC