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J-GLOBAL ID:201702252341251895   整理番号:17A0475383

青色リン光有機発光ダイオードにおける長寿命の劣化機構と電子散乱素子構造【Powered by NICT】

Degradation mechanism study and electron scattering device structure for long lifetime in blue phosphorescent organic light-emitting diodes
著者 (4件):
資料名:
巻: 43  ページ: 82-86  発行年: 2017年 
JST資料番号: W1352A  ISSN: 1566-1199  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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Irベース青色りん光エミッタの劣化はエミッタの三重項-ポーラロン消滅(TPA)の観点から解析した。二種類Irエミッタの,F置換フェニルピリジン型IrエミッタとF置換フェニルイミダゾール型Irエミッタは,青色発光体として比較した。ポーラロン,励起子および励起子-ポーラロン下でのIrエミッタの一重項キャリア素子のエージング試験はフェニルイミダゾール型Irエミッタはフェニルピリジン型IrエミッタよりもTPA分解に相対的に抵抗性があり,青色リン光有機発光ダイオードの寿命を延長することを明らかにした。添加では,短寿命青色リン光素子の寿命と分解は電子散乱発光層構造を用いた負のポーラロンでTPAを抑制するホスト材料によって改善された。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】
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分類 (1件):
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発光素子 

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