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J-GLOBAL ID：201702254473473841   整理番号：17A0882117

DiaSys:オンチップ診断によるSoC洞察【Powered by NICT】

DiaSys: Improving SoC insight through on-chip diagnosis

著者 (3件)： Wagner Philipp (Institute for Integrated Systems, Technical University of Munich, Arcisstrasse 21, 80333 Munich, Germany) ,  Wild Thomas (Institute for Integrated Systems, Technical University of Munich, Arcisstrasse 21, 80333 Munich, Germany) ,  Herkersdorf Andreas (Institute for Integrated Systems, Technical University of Munich, Arcisstrasse 21, 80333 Munich, Germany)
資料名： Journal of Systems Architecture  (Journal of Systems Architecture)
巻： 75  ページ： 120-132  発行年： 2017年 
JST資料番号： A0883A  ISSN： 1383-7621  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： マルチプロセッサシステムオンチップ(MPSoC)上を走るソフトウェアの中の機能的および非機能的欠陥(バグ)の原因を見出すために,開発者はチップへの洞察が必要である。追跡システムは非侵入的にこの洞察を提供し,高いオフチップ帯域幅要求のコスト。I/Oボトルネックは,可観測性を制限し,より機能性はオンチップ集積として一層厳しくなり問題。本論文では,DiaSys,今日の追跡システムを代替する可能性を持つMPSoC診断システムを提案した。その主なアイデアは,チップ上の観測データの解析を実行する部分的にすることである;結果における,より多くの情報と少ないデータを添付ホストPCに送られる。DiaSysにより,データ解析は診断応用により行った。その入力は,プログラム実行における関心点(関数コールのような)での観測ハードウェアにより生成される。その出力は,より高い情報密度を持つ事象である。事象変換はデータフロー応用としてモデル化した。実行のためには,一部専用と分散オンチップ成分に,そして部分ホストPCにマッピングされるオフチップ境界は診断応用の開発者に透明であった。四タイルを用いた既存のSoCとFPGAプラットフォーム上で動作するメッシュネットワークへの拡張としてDiaSysを実装した。二使用例はDiaSysである追跡システムを置き換えるのに十分な柔軟性であることを確認したが,オフチップ帯域幅要求を低下させた。例,レース条件のデバッグ,ロック競合プロファイルの生成では,大きさの三桁以上の微量帯域幅,共通追跡システムにより生成された全トレースと比較しての減少が見られた。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： 柔軟性 ,  プログラム実行 ,  モデリング ,  ソフトウェア ,  帯域幅 ,  FPGA ,  計算機アーキテクチャ ,  ハードウェア ,  可観測性 ,  メッシュ網 ,  データ解析 ,  *トラッキング装置
準シソーラス用語： MPSoC ,  *システムオンチップ ,  *オンチップ , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (6件)： デバッギング ,  追跡 ,  MPSoC ,  診断 ,  データフロー ,  SoCアーキテクチャ

分類 (5件)： ディジタル計算機ハードウェア一般  (JC04010C) ,  CAD,CAM  (JE10000A) ,  マイクロプログラミング  (JD03060B) ,  計算機網  (JC03000K) ,  図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (4件)： オンチップ ,  診断 ,  SOC ,  洞察