文献

J-GLOBAL ID：201702256693002182   整理番号：17A0772538

赤外レーザ照射下での光電子検出器のスペクトル応答性を調べた。【JST・京大機械翻訳】

Research on spetal responsivity of detector under irradiation by infrared laser

著者 (6件)： XU Li-jun (Changchun University of Science and Technology,School of Science) ,  ZHANG Xi-he (Changchun University of Science and Technology,School of Science) ,  CAI Hong-xing (Changchun University of Science and Technology,School of Science) ,  LI Chang-li (Changchun University of Science and Technology,School of Science) ,  TAN Yong (Changchun University of Science and Technology,School of Science) ,  L(U) Yan-fei (Changchun University of Science and Technology,School of Science)
資料名： Jiguang yu Hongwai  (Jiguang yu Hongwai)
巻： 39  号： 11  ページ： 1166-1169  発行年： 2009年 
JST資料番号： C2073A  ISSN： 1001-5078  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 中国語 (ZH)

抄録/ポイント： 応答度Rは検出器の性能を反映する重要な指標である。光検出器がレーザによって損傷されると,応答度Rは低下する。本論文では,高出力レーザによる光検出器の損傷機構を検討し,異なるパワー密度のレーザによる検出器のスペクトルを測定し,検出器の応答スペクトルを調べた。これらの結果は,光電子検出器と光検出器の抗レーザー損傷の研究のための参照価値がある。Data from the ScienceChina, LCAS. Translated by JST【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 応答スペクトル ,  *検出器 ,  *赤外レーザ ,  レーザ損傷 ,  光検出器 ,  *レーザ ,  *スペクトル ,  高出力レーザ
準シソーラス用語： 電力密度 ,  *スペクトル応答 ,  *電子検出器 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (4件)： laser ,  photoelectric detector ,  spetal responsivity ,  damage

分類 (1件)： 測光と光検出器一般  (BD07031F)

タイトルに関連する用語 (4件)： 赤外レーザ ,  光電子 ,  検出器 ,  スペクトル応答