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J-GLOBAL ID：201702257280061836   整理番号：17A0240660

SPAD読出し回路のための時間測定法における量子化誤差の低減【Powered by NICT】

Reducing quantization error in time measurement technique for SPAD readout circuit

著者 (3件)： Kazma Rabih (Univ. Grenoble Alpes, LPSC, CNRS/IN2P3, F-38026, Grenoble) ,  Rossetto Olivier (Univ. Grenoble Alpes, LPSC, CNRS/IN2P3, F-38026, Grenoble) ,  Sicard Gilles (Univ. Grenoble Alpes, CEA, LETI, MINATEC Campus, F-38054, Grenoble)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2016  号： ICECS  ページ： 97-100  発行年： 2016年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本論文では,時間測定法における量子化誤差を低減する新しい方法をSPAD読み出し回路を提案した。最初に,曲線因子を低下させずに時間と振幅測定に基づく二重読出し法を用いて単一光子アバランシェフォトダイオードに基づく画素の読み出し動的範囲を拡大する新しい読み出し方法を開発した。本論文では,多重時間分解能を用いて簡単に量子化誤差を減少させるのに時間測定法に適用し,提案した方法の寄与を記述した。はこの方法の主な利点は,全てのアクティブピクセルセンサ(APS)に適用する能力であることに注目することが重要である。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 多重化 ,  *量子化誤差 ,  時間分解能 ,  画素 ,  ダイナミックレンジ ,  *時間測定 ,  アバランシェフォトダイオード
準シソーラス用語： アクティブピクセルセンサ ,  単一光子 ,  曲線因子 ,  *読出回路 ,  *単一光子アバランシェダイオード , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (3件)： 撮像・録画装置  (ND12032E) ,  X線技術  (BA02060D) ,  光導電素子  (NC03083X)

タイトルに関連する用語 (4件)： SPAD ,  読出し回路 ,  測定法 ,  量子化誤差