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J-GLOBAL ID：201702258003711567   整理番号：17A0069399

SEMによる琿春の微細構造特性の研究【JST・京大機械翻訳】

Microstructural characteristics of low-rank coal from Hunchun based on SEM

著者 (5件)： Zou Junpeng (State Key Laboratory of Geomechanics and Geotechnical Engineering,Institute of Rock and Soil Mechanics,Chinese Academy of Sciences) ,  Chen Weizhong (State Key Laboratory of Geomechanics and Geotechnical Engineering,Institute of Rock and Soil Mechanics,Chinese Academy of Sciences) ,  Yang Diansen (State Key Laboratory of Geomechanics and Geotechnical Engineering,Institute of Rock and Soil Mechanics,Chinese Academy of Sciences) ,  Yu Hongdan (State Key Laboratory of Geomechanics and Geotechnical Engineering,Institute of Rock and Soil Mechanics,Chinese Academy of Sciences) ,  Tan Xianjun (State Key Laboratory of Geomechanics and Geotechnical Engineering,Institute of Rock and Soil Mechanics,Chinese Academy of Sciences)
資料名： Yanshi Lixue yu Gongcheng Xuebao  (Yanshi Lixue yu Gongcheng Xuebao)
巻： 35  号： 9  ページ： 1805-1814  発行年： 2016年 
JST資料番号： C2046A  ISSN： 1000-6915  CODEN： YLGXF5  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 中国語 (ZH)

抄録/ポイント： 現在、走査型電子顕微鏡(SEM)デジタル画像を利用して、低試料の鉱物成分の含有量、微小断裂の発育及びミクロ構造の異方性特徴について系統的な研究を行った。走査型電子顕微鏡(SEM)試験と水銀注入試験を組み合わせて,琿春 炭田の低密度微細構造と微小亀裂発達の異方性を研究した。適切なグレースケール閾値を選択することによって,走査型電子顕微鏡で観察された平行と垂直の層の顕微鏡画像を鉱物鉱物のデジタル画像と微裂隙二値のデジタル画像に処理し,鉱物成分のパーセンテージ含有量と平行な垂直層と垂直面層の微小体積のパーセンテージを計算した。平行と垂直方向における微小亀裂発達のフラクタル特性を研究し,計算した結果は,平行層と比較して,垂直方向層の表面が平坦性,規則性が悪く,空間充填能力が強く,比表面積が大きく,より強い吸着能力を持つことを示した。水銀注入試験の結果によると,石炭試料の細孔径は10~100NM及び15~95ΜMの範囲にあり,10~100NMの範囲では比表面積の変化が最も大きかった。走査型電子顕微鏡(SEM)によって観察された煤植体の層状構造と鉱物構造は,それらの範囲に分布しており,それは,煤植体層状構造と鉱物構造が,より大きな比表面積を提供することができ,層状構造が,より高い炭層メタン吸着容量に寄与することを示している。Data from the ScienceChina, LCAS. Translated by JST【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 規則度 ,  走査電子顕微鏡 ,  細孔径 ,  比表面積 ,  微小亀裂 ,  ディジタル画像 ,  煤 ,  フラクタル ,  水銀 ,  *春 ,  グレースケール ,  鉱物 ,  層状組織 ,  平坦性
準シソーラス用語： 吸着容量 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (6件)： rock mechanics ,  low-rank coal ,  the SEM test ,  digital image ,  the fractal theory ,  pore size distribution

分類 (1件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (4件)： SEM ,  微細 ,  構造特性 ,  研究