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J-GLOBAL ID：201702258301921043   整理番号：17A0757224

Pバックトラッキング:確率を用いた新しいスキャン連鎖診断法【Powered by NICT】

P-backtracking: A new scan chain diagnosis method with probability

著者 (3件)： Kim Tae Hyun (Yonsei University, Electrical and Electronic Engineering, Seoul, Korea, republic of) ,  Lim Hyun Yul (Yonsei University, Electrical and Electronic Engineering, Seoul, Korea, republic of) ,  Kang Sungho (Yonsei University, Electrical and Electronic Engineering, Seoul, Korea, republic of)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2016  号： ISOCC  ページ： 141-142  発行年： 2016年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： スキャン鎖構造はSoCのための一般的で主要なDFTである。スキャン鎖は信頼性のあるSoCテストのためのflawlessなければならない。スキャンチェーンにおける断層であるならば,故障とその原因を除去するSoCの高収率のために重要である。本論文では,「pバックトラッキング」,新しいスキャンチェーン診断手法を提案した。この方法は論理回路をバックトラックするソフトウェアのみを使用し,スキャンチェーンにおける故障の確率を計算した。ISCAS’89ベンチマーク回路を用いた実験結果はpバックトラッキングは,従来の診断法と比較して,より高い診断精度と小さい診断分解能を持つ単一故障点標定を見つけることができることを示した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 信頼性 ,  *バックトラッキング ,  論理回路 ,  分解能 ,  *走査 ,  ソフトウェア ,  故障点標定
準シソーラス用語： 診断精度 ,  ベンチマーク回路 ,  システムオンチップ , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (5件)： バックトラッキング ,  確率 ,  スキャン ,  連鎖 ,  診断法