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J-GLOBAL ID：201702260840662292   整理番号：17A0765489

ゾル-ゲル法で作製したFeドープSnO_2膜の磁気特性における欠陥の役割【Powered by NICT】

Role of defects in magnetic properties of Fe-doped SnO_2 films fabricated by the Sol-Gel method

著者 (8件)： Zhou Xue-Yun (Lanzhou University) ,  Ge Shi-Hui (Lanzhou University) ,  Han Xiu-Feng (Institute of Physics,Chinese Academy of Sciences) ,  Zuo Ya-Lu (Lanzhou University) ,  Xiao Yu-Hua (Lanzhou University) ,  Wen Zhen-Chao (Institute of Physics,Chinese Academy of Sciences) ,  Zhang Li (Lanzhou University) ,  Li Ming-Jie (Lanzhou University)
資料名： Chinese Physics B  (Chinese Physics B)
巻： 18  号： 9  ページ： 4025-4029  発行年： 2009年09月 
JST資料番号： W1539A  ISSN： 1674-1056  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本論文では,ゾル-ゲル法により作製したSn(1 x)FexO_2膜における室温強磁性を得た。X線回折の結果は,FeドーピングはSnO_2とFe(3+)イオンSnサイトを占有するの増殖を阻害することを示した。抵抗の測定は自由キャリア強磁性を誘導することを排除した。さらに,磁化の温度依存性はCurie-Weiss則と束縛磁気ポーラロン(BMP)理論により良く適合した。強磁性の増大はH_2で7.1%,および酸素流速の減少とともに試料をアニーリングすることによって達成した。すべてのこれらの結果は,欠陥に依存してBMPモデルは希薄磁性酸化物における強磁性を説明することができることを証明した。Data from the ScienceChina, LCAS. Translated by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 磁気ポーラロン ,  *ゾル-ゲル法 ,  磁性 ,  磁化 ,  X線回折 ,  *スズ ,  *ドーピング ,  酸化物 ,  温度依存性 ,  *鉄 ,  強磁性 ,  Curie-Weiss則 ,  焼なまし
準シソーラス用語： 自由キャリア ,  室温強磁性 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (3件)： 希薄磁性酸化物 ,  BMPモデル ,  欠陥

分類 (1件)： 酸化物結晶の磁性  (BM06050E)

タイトルに関連する用語 (7件)： ゾル-ゲル法 ,  作製 ,  Fe ,  ドープ ,  磁気特性 ,  欠陥 ,  役割