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J-GLOBAL ID：201702262015974318   整理番号：17A0085351

電源レールESD保護用の,過渡的と静的の混合トリガーによるアクティブ・クランプの設計

Transient and Static Hybrid-Triggered Active Clamp Design for Power-Rail ESD Protection

著者 (3件)： Lu Guangyi (Key Laboratory of Microelectronics Device and Circuits, Institute of Microelectronics, Peking University, Beijing, China) ,  Wang Yuan (Key Laboratory of Microelectronics Device and Circuits, Institute of Microelectronics, Peking University, Beijing, China) ,  Zhang Xing (Key Laboratory of Microelectronics Device and Circuits, Institute of Microelectronics, Peking University, Beijing, China)
資料名： IEEE Transactions on Electron Devices  (IEEE Transactions on Electron Devices)
巻： 63  号： 12  ページ： 4654-4660  発行年： 2016年 
JST資料番号： C0222A  ISSN： 0018-9383  CODEN： IETDAI  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 過渡的と静的の混合トリガーによる,静電放電(ESD)保護用アクティブ・クランプを提案した。提案したクランプは,色々な検出メカニズムをうまく組み合わせて,過渡的クランプよりも強化された静的な電気過剰ストレス保護能力を達成する。更に,人体と荷電デバイスの両方のモデルにおけるイベントにおいて,静的クランプよりも改良された放電反応速度を達成する。本論文ではまた,伝統的クランプよりも優れた過渡的雑音に対する不感性を明らかにした。提案したクランプを,65nmバルクCMOS工程で立証することに成功した。ここではまた,提案したクランプの設計柔軟性を徹底的に論じた。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST

シソーラス用語： *静電気 ,  *放電 ,  *電気保護 ,  *伝送線路 ,  *電気試験 ,  *クランプ回路 ,  トリガ回路 ,  放電反応 ,  反応速度 ,  *CMOS ,  *半導体プロセス ,  生体モデル ,  雑音発生防止
準シソーラス用語： ESD【放電】 ,  パルス試験 ,  静的クランプ ,  過渡クランプ ,  人体模型

分類 (2件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G) ,  半導体集積回路  (NC03162T)

タイトルに関連する用語 (5件)： レール ,  ESD保護 ,  トリガー ,  クランプ ,  設計