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J-GLOBAL ID：201702262405842552   整理番号：17A0057267

使い方廃クロックサイクルを入れる:スキャンシフト捕獲を用いて強化された偶然の細胞を意識した故障検出【Powered by NICT】

Putting wasted clock cycles to use: Enhancing fortuitous cell-aware fault detection with scan shift capture

著者 (8件)： Zhang Fanchen (Southern Methodist University, Dallas, TX) ,  Hwong Daphne (Southern Methodist University, Dallas, TX) ,  Sun Yi (Southern Methodist University, Dallas, TX) ,  Garcia Allison (Southern Methodist University, Dallas, TX) ,  Alhelaly Soha (Southern Methodist University, Dallas, TX) ,  Shofner Geoff (NXP Semiconductors, Austin, TX) ,  Winemberg LeRoy (NXP Semiconductors, Austin, TX) ,  Dworak Jennifer (Southern Methodist University, Dallas, TX)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2016  号： ITC  ページ： 1-10  発行年： 2016年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： n検出と標準LBIST(論理組込み自己テスト(BIST))のような非標的欠陥の検出への確率論的アプローチは一般的に良好な被覆を達成するための非常に長い試験セット適用する必要性に悩まされている。しかし,明確に,細胞を意識した故障のような新しいタイプの欠陥をモデル化するために,決定論的に検出できるように試みより標的化アプローチは,許容できない長いテストセットにつながる可能性がある。一般的に,試験は,スキャンチェーンを含む回路に適用したときに,全パターンはシフトしており,所望の決定論的パターンを適用した試験結果は,捕捉した。介在シフトサイクルは,オーバーヘッドとしてのみ働く。スキャンシフト中の回路のスキャンフリップフロップにおけるデータ捕捉はシフトしたパターンを破壊するので,これを行った。しかし,データはMISR代わりに影フロップで捕捉されるならば,これらのシフトサイクルは付加的な故障検出率を得るために用いることができた。本論文では,縮退故障を検出するための発生のみテストパターンを用いた高静細胞を意識した故障検出率を達成するために介在シフトサイクルの能力を調べた。も必要影フロップの数を減らすことを研究した。著者らの結果は,高い細胞を意識した被覆は縮退試験セットを適用した時でも 専用細胞を意識した試験セットによって得られた被覆率に等しいいくつかの場合に達成可能であることを示した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 被覆率 ,  テストパターン ,  BIST ,  ターゲティング ,  被覆 ,  データ収集 ,  *捕獲 ,  縮退 ,  モデリング ,  縮退故障 ,  *故障検出
準シソーラス用語： 決定論 ,  確率的方法 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (10件)： 使い方 ,  クロック ,  サイクル ,  スキャン ,  シフト ,  捕獲 ,  強化 ,  細胞 ,  意識 ,  故障検出