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J-GLOBAL ID:201702262619511504   整理番号:17A0776080

赤外イメージングを用いた製造プロセス中のシリコン太陽電池のシャントを監視するための効率的な方法【Powered by NICT】

An efficient method for monitoring the shunts in silicon solar cells during fabrication processes with infrared imaging
著者 (7件):
資料名:
巻: 30  号:ページ: 150-153  発行年: 2009年 
JST資料番号: C2377A  ISSN: 1674-4926  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 中国 (CHN)  言語: 英語 (EN)
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作製プロセスをモニターするために,赤外イメージングシステムは,結晶シリコン太陽電池における短絡領域を検出するために確立した。細胞はJoule熱効果による直流電圧下で印加した際の短絡領域の温度は非シャント領域のそれよりも明らかに高く,短絡領域は赤外イメージングによって検出できた。七様々な理由により引き起こされシャントは金属顕微鏡,走査電子顕微鏡,及びエネルギー分散型X線分光法を用いて同定できる。シャント減少のためのアプローチを提示した。法は,セル製造プロセスの最適化と電池性能の改善のための有益である。Data from the ScienceChina, LCAS. Translated by JST【Powered by NICT】
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, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (1件):
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太陽電池 
タイトルに関連する用語 (4件):
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