B0→D*-π+π-π+分岐率の測定

LEES J. P.; POIREAU V.; TISSERAND V.; GRAUGES E.; PALANO A.; EIGEN G.; BROWN D. N.; KOLOMENSKY Yu. G.; KOCH H.; SCHROEDER T.; HEARTY C.; MATTISON T. S.; MCKENNA J. A.; SO R. Y.; BLINOV V. E.; BLINOV V. E.; BLINOV V. E.; BUZYKAEV A. R.; DRUZHININ V. P.; DRUZHININ V. P.; GOLUBEV V. B.; GOLUBEV V. B.; KRAVCHENKO E. A.; KRAVCHENKO E. A.; ONUCHIN A. P.; ONUCHIN A. P.; ONUCHIN A. P.; SEREDNYAKOV S. I.; SEREDNYAKOV S. I.; SKOVPEN Yu. I.; SKOVPEN Yu. I.; SOLODOV E. P.; SOLODOV E. P.; TODYSHEV K. Yu.; TODYSHEV K. Yu.; LANKFORD A. J.; GARY J. W.; LONG O.; EISNER A. M.; LOCKMAN W. S.; PANDURO VAZQUEZ W.; CHAO D. S.; CHENG C. H.; ECHENARD B.; FLOOD K. T.; HITLIN D. G.; KIM J.; MIYASHITA T. S.; ONGMONGKOLKUL P.; PORTER F. C.; ROEHRKEN M.; HUARD Z.; MEADOWS B. T.; PUSHPAWELA B. G.; SOKOLOFF M. D.; SUN L.; SMITH J. G.; WAGNER S. R.; BERNARD D.; VERDERI M.; BETTI F.; BETTI F.; BETTONI D.; BOZZI C.; CALABRESE R.; CALABRESE R.; CIBINETTO G.; CIBINETTO G.; FIORAVANTI E.; FIORAVANTI E.; GARZIA I.; GARZIA I.; LUPPI E.; LUPPI E.; SANTORO V.; CALCATERRA A.; DE SANGRO R.; FINOCCHIARO G.; MARTELLOTTI S.; PATTERI P.; PERUZZI I. M.; PICCOLO M.; ROTONDO M.; ZALLO A.; PASSAGGIO S.; PATRIGNANI C.; BHUYAN B.; MALLIK U.; CHEN C.; COCHRAN J.; PRELL S.; AHMED H.; GRITSAN A. V.; ARNAUD N.; DAVIER M.; LE DIBERDER F.; LUTZ A. M.; WORMSER G.; LANGE D. J.; WRIGHT D. M.; COLEMAN J. P.; GABATHULER E.; HUTCHCROFT D. E.; PAYNE D. J.; TOURAMANIS C.; BEVAN A. J.; DI LODOVICO F.; SACCO R.; COWAN G.; BANERJEE Sw.; BROWN D. N.; DAVIS C. L.; DENIG A. G.; FRITSCH M.; GRADL W.; GRIESSINGER K.; HAFNER A.; SCHUBERT K. R.; BARLOW R. J.; LAFFERTY G. D.

文献

J-GLOBAL ID：201702263273559118 整理番号：17A0315390

B⁰→D^*-π⁺π^-π⁺分岐率の測定

Measurement of the B⁰→D^*-π⁺π^-π⁺ branching fraction

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資料名：
巻： 94 号： 9 ページ： 091101.1-091101.7 発行年： 2016年11月
JST資料番号： D0748A ISSN： 2470-0010 CODEN： PRVDAQ 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：短報発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

SLACでのPEP-II非対称e⁺e^-コライダーにおけるBABAR検出器を用い,B⁰→D^*-π⁺π^-π⁺崩壊の分岐率を測定した。データサンプルは,Υ(4S)共鳴で集められた積分ルミノシティ424.2±1.8fb^-1に対応する。これは,(470.9±2.8)x10⁶BB対の生成に対応する。D^*-およびD⁰分岐率を考慮し,B⁰→D^*-π⁺π^-π⁺崩壊の分岐率を(7.26±0.11±0.31)x10^-3と求めた。ここで,最初の不定性は統計的誤差を,2番目の不定性は系統的誤差を表わす。この測定は,τ⁺→π⁺π^-π⁺ν_τを用いた,B⁰→D^*-π⁺π^-π⁺崩壊の分岐率に規格化したB⁰→D^*-τ⁺ν_τ崩壊の分岐率を測定することによるレプトン普遍性の研究に役に立つ。

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中間子の崩壊 , 電磁場と統一ゲージ場

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