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J-GLOBAL ID：201702264423872163   整理番号：17A0124378

Eu4F 76P(1/2)nd自動イオン化状態からの放出電子の分岐比と角度分布【Powered by NICT】

Branching ratio and angular distribution of ejected electrons from Eu 4f76p_(1/2)nd auto-ionizing states

著者 (5件)： Wu Xiaorui (Key Laboratory of Display Materials and Photoelectric Devices, Ministry of Education) ,  Shen Li (Key Laboratory of Display Materials and Photoelectric Devices, Ministry of Education) ,  Zhang Kai (Key Laboratory of Display Materials and Photoelectric Devices, Ministry of Education) ,  Dai Changjian (Key Laboratory of Display Materials and Photoelectric Devices, Ministry of Education) ,  Yang Yuna (Key Laboratory of Display Materials and Photoelectric Devices, Ministry of Education)
資料名： Chinese Physics B  (Chinese Physics B)
巻： 25  号： 9  ページ： 093203-1-093203-9  発行年： 2016年 
JST資料番号： W1539A  ISSN： 1674-1056  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： イオンの分岐比とEu4F~76p(1/2)nd自動イオン化状態から放出された電子の角度分布を地図撮像技術を用いて調べた。以上の自動イオン化状態を占有するために,関係する束縛Rydberg状態が初めて検出されなければならない。二新しい束縛Rydberg状態は41150cm( 1)と44580cm( 1)間の領域,そこからEu4f 76p(1/2)nd状態の自動イオン化スペクトルは単離コア励起法で観察し同定した。以上のすべての標本を用いて,異なる最終イオン状態に自動イオン化状態からの分岐比とこれらのプロセスから放出される電子の角分布を系統的に測定した。自動イオン化スペクトル内の分岐比と異方性パラメータのエネルギー依存性を注意深く解析し,続いて定性的解釈した。Data from the ScienceChina, LCAS. Translated by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： Rydberg状態 ,  異方性 ,  *角分布 ,  スペクトル ,  エネルギー依存性 ,  *イオン ,  単離 ,  *自動イオン化 ,  撮像 ,  コア励起 ,  *分岐比

著者キーワード (4件)： 速度マップイメージング ,  Eu4F~76P(1/2)nd自動イオン化状態 ,  分岐比 ,  角分布

分類 (2件)： 分子と光子の相互作用  (BH06120R) ,  原子と光子の相互作用  (BH03060F)

タイトルに関連する用語 (6件)： Nd ,  自動イオン化 ,  放出 ,  電子 ,  分岐比 ,  角度分布