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J-GLOBAL ID:201702264532315282   整理番号:17A0697642

光干渉法に基づく表面プロフィル測定技術のレビュー【Powered by NICT】

Review of surface profile measurement techniques based on optical interferometry
著者 (4件):
資料名:
巻: 93  ページ: 164-170  発行年: 2017年 
JST資料番号: A0602B  ISSN: 0143-8166  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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現代の科学技術の急速な発展により,高分解能と大きなダイナミックレンジを有する二または三次元表面形状測定技術が緊急に必要である。それらの中で,光干渉法に基づく方法はメータの定義への非接触,高分解能,大きな動的測定範囲と明確なトレーサビリティ経路の優れた性質のための広く用いられている。光干渉法の表面プロファイル測定技術に焦点を当てたレビューを本論文で導入した動作原理によって分類した詳細な分類であった。各カテゴリーにおける例を更に良く理解するために考察し,解析した。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】
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, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (1件):
分類
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干渉測定と干渉計 
タイトルに関連する用語 (3件):
タイトルに関連する用語
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