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J-GLOBAL ID：201702265434150822   整理番号：17A0401841

接着剥離の走査型Kelvinプローブブリスタ試験測定実験と理論の間のギャップの橋渡し【Powered by NICT】

Scanning Kelvin Probe Blister test measurements of adhesive delamination - Bridging the gap between experiment and theory

著者 (5件)： Grothe R. (University of Paderborn, Department for Technical and Macromolecular Chemistry, Warburger Str. 100, 33098 Paderborn, Germany) ,  Liu Chen-Ni (University of Paderborn, Department for Technical and Macromolecular Chemistry, Warburger Str. 100, 33098 Paderborn, Germany) ,  Baumert M. (Fraunhofer IFAM, Wiener Str. 12, 28359 Bremen, Germany) ,  Hesebeck O. (Fraunhofer IFAM, Wiener Str. 12, 28359 Bremen, Germany) ,  Grundmeier G. (University of Paderborn, Department for Technical and Macromolecular Chemistry, Warburger Str. 100, 33098 Paderborn, Germany)
資料名： International Journal of Adhesion and Adhesives  (International Journal of Adhesion and Adhesives)
巻： 73  ページ： 8-15  発行年： 2017年 
JST資料番号： C0153B  ISSN： 0143-7496  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 亜鉛めっき鋼基板からエポキシ接着剤膜の剥離は,制御された大気条件,適用圧力および界面電極電位下での電気化学的高さ調節走査型Kelvinプローブブリスタ試験(HR SKP BT~11HR SKP BT:高さ調節走査型Kelvinプローブブリスタ試験)により調べた。実験的研究は,適用した機械的荷重下での腐食剥離過程および剥離の前面での腐食および剥離機構の解析を誘導する重要な環境水分活性の分析に焦点を当てた。最大泡高さと剥離速度の増加に及ぼす適用した圧力と相対湿度の影響は,欠陥の一定分極下で測定した。90°剥離試験から得られた剥離力と水分活性を相関させるために行った。剥離フロント全域にわたって形成された腐食生成物をRaman顕微鏡により分析した。これらHR SKP BT研究により,臨界値は剥離過程の相対湿度であった。遷移帯は,電気化学的分解は機械的剥離に先行して検出された。実験研究に加えて,水ほうの臨界エネルギー解放率を有限要素(FE~22FE:有限要素)シミュレーションで計算した金属表面上の接着剤の剥離のより良い理解を可能にした。実験と理論を組み合わせた研究は,剥離プロセスは,剥離フロントでの界面電気化学反応によって制御され,百μmの遷移領域は,この地域における機械的ストレスによって克服することができる値に接着強さはカソード酸素還元プロセスにより低下し存在することを示した。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： 亜鉛めっき ,  相対湿度 ,  界面 ,  接着強さ ,  腐食生成物 ,  腐食 ,  電極電位 ,  *ブリスタリング ,  剥離試験 ,  電気化学 ,  気泡 ,  *接着 ,  エネルギー解放率
準シソーラス用語： 金属表面 ,  *Kelvinプローブ , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (8件)： エポキシド ,  金属 ,  非破壊試験 ,  走査型ケルビンはブリスタ試験を調べる ,  剥離 ,  有限要素応力解析 ,  顕微鏡 ,  剥離

分類 (1件)： 接着剤の性質・試験  (YK02000Q)

タイトルに関連する用語 (7件)： 走査型 ,  Kelvinプローブ ,  ブリスタ ,  試験 ,  実験 ,  理論 ,  ギャップ