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J-GLOBAL ID：201702265995310080   整理番号：17A0751658

BiFeO_3薄膜のPoisson比可変一軸歪下のX線逆空間マッピング【Powered by NICT】

Poisson’s ratio of BiFeO₃ thin films: X-ray reciprocal space mapping under variable uniaxial strain

著者 (9件)： Hu S. (School of Materials Science and Engineering, UNSW Australia, Sydney, Australia) ,  Alsubaie A. (School of Materials Science and Engineering, UNSW Australia, Sydney, Australia) ,  Alsubaie A. (School of Physics, Taif University, Taif, Kingdom of Saudi Arabia) ,  Wang Y. (Solid State and Elemental Analysis Unit, Mark Wainwright Analytical Centre, UNSW Australia, Sydney, Australia) ,  Lee J. H. (Department of Physics, KAIST, Yuseong-gu, Daejeon, 34141, Republic of Korea) ,  Kang K.-R. (KAIST Institute for the NanoCentury, KAIST, Yuseong-gu, Daejeon, 34141, Republic of Korea) ,  Yang C.-H. (Department of Physics, KAIST, Yuseong-gu, Daejeon, 34141, Republic of Korea) ,  Yang C.-H. (KAIST Institute for the NanoCentury, KAIST, Yuseong-gu, Daejeon, 34141, Republic of Korea) ,  Seidel J. (School of Materials Science and Engineering, UNSW Australia, Sydney, Australia)
資料名： Physica Status Solidi. A. Applications and Materials Science  (Physica Status Solidi. A. Applications and Materials Science)
巻： 214  号： 1  ページ： ROMBUNNO.201600356  発行年： 2017年 
JST資料番号： D0774A  ISSN： 1862-6300  CODEN： PSSABA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： ドイツ (DEU)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： した特別に設計した一軸曲げ段階用いて手動で湾曲することをSrTiO_3(001)基板上に成長させたBiFeO_3(BFO)薄膜の機械的性質を調べた。可変一軸歪下のX線測定は,~2%まで過剰株は[100]および[010]方向の間のクロストークが少なく[100]方向に沿って適用できることを示した。X線逆空間マップは,aの進化と可変歪下でc軸格子定数を調べるために得られ,BFO薄膜のPoisson比v_zxは0.30±0.01と決定された。Copyright 2017 Wiley Publishing Japan K.K. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： *X線 ,  クロストーク ,  *薄膜 ,  *Poisson比 ,  *一軸 ,  格子定数 ,  機械的性質
準シソーラス用語： *逆格子空間 ,  *空間マッピング ,  *一軸歪 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (6件)： BiFeO3 ,  弾性特性 ,  機械的性質 ,  multiferroics ,  薄膜 ,  X線回折

分類 (1件)： 半導体の放射線による構造と物性の変化  (BK16123E)

タイトルに関連する用語 (6件)： 薄膜 ,  Poisson比 ,  可変 ,  一軸歪 ,  X線 ,  空間マッピング