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J-GLOBAL ID：201702266196146645   整理番号：17A0211067

リチオ化高秩序熱分解グラファイト(HOPG)のオージェオージェ電子分光法とX線光電子分光法

Auger and X-ray photoelectron spectroscopy on lithiated HOPG

著者 (5件)： Hoffmann M. (IFW Dresden, Institut fuer Komplexe Materialien, Postfach 270116, D-01069, Dresden, Germany) ,  Oswald S. (IFW Dresden, Institut fuer Komplexe Materialien, Postfach 270116, D-01069, Dresden, Germany) ,  Zier M. (IFW Dresden, Institut fuer Komplexe Materialien, Postfach 270116, D-01069, Dresden, Germany) ,  Eckert J. (IFW Dresden, Institut fuer Komplexe Materialien, Postfach 270116, D-01069, Dresden, Germany) ,  Eckert J. (Erich Schmid Institute of Materials Science, Austrian Academy of Sciences (OEAW), Jahnstrasse 12, A-8700, Leoben, Austria)
資料名： Surface and Interface Analysis  (Surface and Interface Analysis)
巻： 48  号： 7  ページ： 501-504  発行年： 2016年07月 
JST資料番号： E0709A  ISSN： 0142-2421  CODEN： SIANDQ  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本研究は,モデル系として高秩序熱分解グラファイト(HOPG)を利用してリチオ化グラファイト陽極のオージェ電子分光法(AES)による調査を報告する。筆者らは,インターカレートしたリチウムの検出が,電子ビーム損傷に関係するAES測定中の効果,即ち,Arスパッタリング効果と超高真空条件の影響に非常に鋭敏であることを示す。同一の系の種々の解釈に起因する不一致の説明が,示される。筆者らは,電気化学的に帯電したHOPGの表面での固体電解質界面(被膜)の除去に利用される2種の表面処理,即ち,オージェ深さ方向プロファイルで一般的に利用される通りの単純なAr⁺スパッタリングと試料表面のその場切断の比較によってそれを行う。最終的な結果へのスパッタリングの大きな影響は,これらの表面へのX線光電子分光法とAESを適用して証拠付けられる。また,これらの結果の誤解からの回避を支援するために,AESの測定パラメーター,表面の調製,及び測定時間に依存するAESの金属リチウムピークの存在が示される。Copyright 2017 Wiley Publishing Japan K.K. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.

シソーラス用語： Auger分光法 ,  X線光電子分光法 ,  *高配向性熱分解グラファイト ,  リチウム ,  *リチウムイオン電池 ,  *電極 ,  電気化学 ,  表面分析 ,  スパッタリング

著者キーワード (4件)： AES ,  XPS ,  lithiated HOPG ,  lithium

分類 (3件)： 電気化学反応  (CB07050F) ,  固体の表面構造一般  (BK15010E) ,  二次電池  (YB04030K)

タイトルに関連する用語 (6件)： リチオ化 ,  熱分解 ,  グラファイト ,  HOPG ,  電子分光法 ,  X線光電子分光法