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J-GLOBAL ID：201702267031200314   整理番号：17A0792733

電子後方散乱回折パターンからの格子定数測定【Powered by NICT】

Lattice constant measurement from electron backscatter diffraction patterns

著者 (3件)： SAOWADEE N. (Department of Energy Conversion and Storage, Technical University of Denmark, Riso Campus, Frederiksborgvej, Roskilde, Denmark) ,  AGERSTED K. (Department of Energy Conversion and Storage, Technical University of Denmark, Riso Campus, Frederiksborgvej, Roskilde, Denmark) ,  BOWEN J.R. (Department of Energy Conversion and Storage, Technical University of Denmark, Riso Campus, Frederiksborgvej, Roskilde, Denmark)
資料名： Journal of Microscopy  (Journal of Microscopy)
巻： 266  号： 2  ページ： 200-210  発行年： 2017年 
JST資料番号： B0454B  ISSN： 0022-2720  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 電子後方散乱回折パターン(EBSP)におけるKikuchiバンドはBragg方程式経由で抽出できることを結晶学的試料の格子定数に関する情報を含んでいる。回折(XRD)EBSPsからの格子定数測定の利点は,局所分析を実行する能力である。本研究では,純物質と共焼結複合材料中の立方晶STNおよび立方晶YSZの格子定数は,較正標準としてのシリコン単結晶を用いた10kVで得られたそれらのEBSPsから測定した。EBSP歪は球状逆投影により補正したとKikuchiバンド解析は社内ソフトウェアを用いて行った。格子定数測定の誤差はXRDで決定した値と比較して0.09 1.12%の範囲にあり,文献からであると決定した。法の信頼レベルは測定の標準偏差,約0.04Åであるが示唆された。測定精度のKikuchiバンドサイズ依存性は,測定誤差が増加バンドサイズ(すなわち減少格子定数)で減衰することを示した。しかし,実際には,広いバンドの鮮鋭度は,それらの低い強度のために低いこと,測定精度を制限する傾向があった。測定精度を改善するための可能な方法を提案した。Copyright 2017 Wiley Publishing Japan K.K. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： 結晶学 ,  ソフトウェア ,  測定誤差 ,  ケイ素 ,  *格子定数 ,  標準偏差 ,  X線回折 ,  鮮鋭度 ,  単結晶 ,  電子回折 ,  測定精度 ,  複合材料
準シソーラス用語： サイズ依存性 ,  EBSP ,  *EBSD , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (7件)： EBSD ,  EBSDパターン ,  Kikuchiバンド幅 ,  格子定数 ,  チタン酸ストロンチウム ,  XRD ,  イットリア安定化ジルコニア

分類 (1件)： 電子回折法  (BK01030T)

タイトルに関連する用語 (2件)： 電子後方散乱回折 ,  格子定数