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J-GLOBAL ID：201702267613525550   整理番号：17A0365918

微細構造のSiO_2/Al_2O_3比依存性とチタン酸バリウムストロンチウムガラスセラミックの誘電特性【Powered by NICT】

SiO₂/Al₂O₃ ratio dependence of microstructures and dielectric properties in barium strontium titanate glass ceramics

著者 (5件)： Song Xiaozhen (Beijing Key Laboratory of Fine Ceramics, State Key Laboratory of New Ceramics and Fine Processing, Institute of Nuclear and New Energy Technology, Tsinghua University, Beijing 100084, PR China) ,  Zhang Yong (Beijing Key Laboratory of Fine Ceramics, State Key Laboratory of New Ceramics and Fine Processing, Institute of Nuclear and New Energy Technology, Tsinghua University, Beijing 100084, PR China) ,  Chen Yongzhou (Beijing Key Laboratory of Fine Ceramics, State Key Laboratory of New Ceramics and Fine Processing, Institute of Nuclear and New Energy Technology, Tsinghua University, Beijing 100084, PR China) ,  Yang Dongliang (Beijing Key Laboratory of Fine Ceramics, State Key Laboratory of New Ceramics and Fine Processing, Institute of Nuclear and New Energy Technology, Tsinghua University, Beijing 100084, PR China) ,  Shen Ziqin (Beijing Key Laboratory of Fine Ceramics, State Key Laboratory of New Ceramics and Fine Processing, Institute of Nuclear and New Energy Technology, Tsinghua University, Beijing 100084, PR China)
資料名： Ceramics International  (Ceramics International)
巻： 42  号： 16  ページ： 18453-18458  発行年： 2016年 
JST資料番号： H0705A  ISSN： 0272-8842  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 種々SiO_2/Al_2O_3比(Ba, Sr)TiO_3 Al_2O_3 SiO_2ガラスセラミック系をX線回折(XRD),走査電子顕微鏡(SEM),誘電分光法とインピーダンス分光法により調べた。XRD結果は,適切なSiO_2/Al_2O_3比はガラスマトリックスから主要な結晶相の結晶化を促進することを示した。誘電特性研究は,誘電率は最大値を通過した絶縁破壊強度はSiO_2/Al_2O_3比の増加と共に最小値を有することを示した。一方,複素インピーダンス分析は,ガラス-結晶界面の抵抗は急速に減少し,結晶の静電容量はSiO_2/Al_2O_3比の増加と共にわずかに減少したが示唆された。(Ba, Sr)TiO_3ガラスセラミックSiO_2/Al_2O_3比として長距離伝導率に局在緩和からの緩和機構が1.43から1.83に増加した。誘電応答における変動と2.40の比をもつ(Ba, Sr)TiO_3ガラスセラミックにおけるガラス-結晶界面の活性化エネルギーはフレスノイト相の結晶化に起因すると考えられる。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： 走査電子顕微鏡 ,  静電容量 ,  *ガラス ,  誘電率 ,  *誘電性 ,  活性化エネルギー ,  結晶粒界 ,  絶縁耐力 ,  X線回折 ,  *ガラスセラミック
準シソーラス用語： 誘電応答 ,  複素インピーダンス ,  インピーダンス分光法 ,  誘電分光法 ,  *チタン酸バリウムストロンチウム , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (4件)： B微細構造 ,  C.誘電特性 ,  C.インピーダンス分光法 ,  Dガラスセラミック

分類 (2件)： ガラスの製造  (YC02020O) ,  ガラスの性質・分析・試験  (YC02030Z)

タイトルに関連する用語 (5件)： 微細構造 ,  依存性 ,  チタン酸バリウムストロンチウム ,  ガラスセラミック ,  誘電特性