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J-GLOBAL ID：201702271048346658   整理番号：17A0734959

相対論的修正に基づく超高速電子銃偏向走査システムの理論的研究【JST・京大機械翻訳】

Theoretical study of deflection-scan subsystem of femtosecond electron diffraction system based on relativistic correction

著者 (4件)： Wu Jianjun (Wuxi Institute of Commerce) ,  Tian Jinshou (Xi’an Institute of Optics and Precision Mechanics,Chinese Academy of Sciences) ,  Zhao Baosheng (Xi’an Institute of Optics and Precision Mechanics,Chinese Academy of Sciences) ,  Zhang Jie (Institute of Physics,Chinese Academy of Sciences)
資料名： Qiangjiguang yu Lizishu  (Qiangjiguang yu Lizishu)
巻： 21  号： 3  ページ： 321-325  発行年： 2009年 
JST資料番号： C2482A  ISSN： 1001-4322  CODEN： QYLIEL  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 中国語 (ZH)

抄録/ポイント： 走査電子状態の下でのフェムト秒電子回折システムの電子ビームの計算方法について理論研究を行い、超高速電子パルスの測定方法を討論し、相対論効果が電子ビームの偏向と電子ビームの幅に対する計算結果の影響を比較し、相応の数値計算を行った。計算結果により、電界のエッジ効果などの要素を無視した後、電子ビームの速度の相対論的修正が偏向距離と電子ビーム幅に与える影響はそれぞれ61.4MMと65FSになることが分かった。研究結果は超高速電子ビームの走査システムの設計、超短電子パルス幅の測定方法、特に超短電子パルス幅の測定過程における同期実験に対して一定の指導意義がある。Data from the ScienceChina, LCAS. Translated by JST【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *走査装置 ,  パルス幅 ,  フェムト秒 ,  *相対論 ,  数値計算 ,  実験 ,  電子回折 ,  *電子銃 ,  電場 ,  *走査 ,  電子ビーム ,  *偏向 ,  電子状態
準シソーラス用語： 電子パルス ,  *超高速 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (4件)： femtosecond laser ,  ultra-fast electron diffraction ,  deflection and scanning system ,  relativistic correction

分類 (2件)： X線技術  (BA02060D) ,  図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (4件)： 電子銃 ,  偏向走査 ,  理論 ,  研究