文献

J-GLOBAL ID：201702271969921300   整理番号：17A0549846

CIGSモジュールのDamp Heat試験およびPID試験:IEC規格へのバイアス電圧印加オプションの追加

著者 (7件)： 櫻井啓一郎 (産業技術総合研) ,  小川錦一 (産業技術総合研) ,  柴田肇 (産業技術総合研) ,  増田淳 (産業技術総合研) ,  冨田仁 (ソーラーフロンティア) ,  SCHMITZ Darshan (ソーラーフロンティア) ,  徳田修二 (ソーラーフロンティア)
資料名： 応用物理学会春季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)  (Extended Abstracts. JSAP Spring Meeting (CD-ROM))
巻： 64th  ページ： ROMBUNNO.16a-F201-12  発行年： 2017年03月01日 
JST資料番号： Y0054B  ISSN： 2436-7613  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： インジウム化合物 ,  ガリウム化合物 ,  セレン化物 ,  銅化合物 ,  *太陽電池 ,  *信頼性 ,  光照射 ,  *劣化 ,  太陽光発電 ,  生産量 ,  *IEC規格 ,  *技術基準 ,  *CIGS太陽電池 ,  セレン化ガリウムインジウム銅
準シソーラス用語： CIGS ,  PID ,  IEC61215-1-4

分類 (2件)： 太陽電池  (NC03084O) ,  固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (10件)： CIGS ,  モジュール ,  dAMP ,  HEAT ,  試験 ,  PID ,  IEC規格 ,  バイアス ,  電圧印加 ,  オプション