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J-GLOBAL ID:201702272890898940   整理番号:17A0833951

イオン選択ミクロピペット電極電位に及ぼす干渉イオン活性変化の短期的影響;電位差測定SECMの画像に必要な時間に影響するもう一つの因子【Powered by NICT】

Short-term influence of interfering ion activity change on ion-selective micropipette electrode potential; another factor that can affect the time needed for imaging in potentiometric SECM
著者 (7件):
資料名:
巻: 77  ページ: 62-64  発行年: 2017年 
JST資料番号: W1133A  ISSN: 1388-2481  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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潜在的妨害イオンの存在下での走査電気化学顕微鏡(SECM)におけるイオン選択性微小電極(ISME)の適用性を調べた。電位差測定SECMイメージングのための必要な時間を減少させる重要な目的である。は一般的に高インピーダンス微小電極による電位差測定セルの長い応答時間は歪なしに得られることをイメージング速度を制限すると考えられている。本研究では,妨害イオンの活性の変化は,SECM測定のためのパラメータ設定において考慮に入れるべきであることを短期電極電位変化をもたらすことを示した。活性段階法を用いて,NH_4~+イオン測定マイクロピペットを用いた。K~+イオンを含まないNH_4~+イオンの等濃度を含む溶液は急速に導入し,電極電位の短期変化を記録した。干渉K~+は長期電極電位に影響を及ぼさなかった範囲におけるK~+活性段階後出現した迅速過渡電位信号。SECM応用に対するこのの可能な影響を考察した。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】
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電気化学反応 

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