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J-GLOBAL ID：201702274576571635   整理番号：17A0736268

発光ダイオード寿命評価【JST・京大機械翻訳】

Evaluation of High-bright LED’ s MTTF

著者 (4件)： Yan Deli (Shijiazhuang Railway Institute) ,  Gao Jinhuan (National Semiconductor Device Quality Supervise and Inspection Center) ,  Gao Zhaofeng (National Semiconductor Device Quality Supervise and Inspection Center) ,  Xu Lisheng (National Semiconductor Device Quality Supervise and Inspection Center)
資料名： Bandaoti Jishu  (Bandaoti Jishu)
巻： 34  号： 10  ページ： 978-980  発行年： 2009年 
JST資料番号： C2378A  ISSN： 1003-353X  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 中国語 (ZH)

抄録/ポイント： ハイライト発光ダイオードは屋外ディスプレイ、交通ランプ、自動及び電子設備と工業設備指示ランプなどに広く応用されており、それは体積が小さく、消費電力が低く、寿命が長く、反映速度が速く、量産などの多くのメリットがあるため、市場が大きく、その寿命評価にとって非常に意義が大きい。温度の加速寿命試験により,ある加速度のLEDの平均寿命を高速評価し,単一加速応力の試験方法を設計し,加速モデルを構築し,加速試験を行い,劣化係数解析法を用いてデータ処理を行った。最終的に,室温での高亮型の平均寿命を得た。Data from the ScienceChina, LCAS. Translated by JST【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： データ処理 ,  消費電力 ,  高速度 ,  表示装置 ,  *発光ダイオード ,  加速度 ,  *寿命評価 ,  加速試験
準シソーラス用語： 試験方法 ,  平均寿命 ,  加速劣化試験 ,  ハイライト , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (5件)： light emitting diode ,  light flux ,  degenerate coefficient ,  accelerate life ,  mean time to failure

分類 (4件)： 光源,照明器具  (NB12020F) ,  発光素子  (NC03082G) ,  信頼性  (KB04040H) ,  固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (2件)： 発光ダイオード ,  寿命評価