文献
J-GLOBAL ID:201702274647097317   整理番号:17A0410774

Sn-Ag-CuはんだとCu基板との間の固相界面反応に及ぼすAg添加の影響【Powered by NICT】

Effects of Ag addition on solid-state interfacial reactions between Sn-Ag-Cu solder and Cu substrate
著者 (7件):
資料名:
巻: 124  ページ: 250-259  発行年: 2017年 
JST資料番号: D0448C  ISSN: 1044-5803  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
抄録/ポイント:
抄録/ポイント
文献の概要を数百字程度の日本語でまとめたものです。
部分表示の続きは、JDreamⅢ(有料)でご覧頂けます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。
低Ag含有量のSn-Ag-Cu(SAC)はんだは,低コストの電子部品実装で最近非常に注目を集めている。Pbフリーはんだ中のAg含有量を減少させる合理的にするために,SACはんだ/Cu基板界面反応に及ぼすAgの基本的影響の深い理解が必須である。以前の研究では,界面金属間化合物(IMC)の厚さに及ぼすAgの影響を議論した。しかし,IMC成長は複数の因子の結合結果であるため,このような特性は,Agの実際の役割を明らかにしなかった。本研究では,Ag導入後界面IMCの変化は結晶粒粗大化挙動,配向進化と成長速度論の面から特性化系統的に,また,定量分析した。結果ははんだ合金中のAgは結晶粒粗大化挙動に影響し,配向濃度を促進し,固相状態時効中の界面IMCの成長を阻害することを示した。阻害機構はCuとSn原子の個々の拡散挙動を考慮して,Agは界面を通るCu原子の拡散を遅らせることによって主に界面IMC成長を阻害することを明らかにした定量的に考察した。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】
シソーラス用語:
シソーラス用語/準シソーラス用語
文献のテーマを表すキーワードです。
部分表示の続きはJDreamⅢ(有料)でご覧いただけます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。

準シソーラス用語:
シソーラス用語/準シソーラス用語
文献のテーマを表すキーワードです。
部分表示の続きはJDreamⅢ(有料)でご覧いただけます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。
, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (1件):
分類
JSTが定めた文献の分類名称とコードです
変態組織,加工組織 
タイトルに関連する用語 (6件):
タイトルに関連する用語
J-GLOBALで独自に切り出した文献タイトルの用語をもとにしたキーワードです

前のページに戻る