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J-GLOBAL ID：201702275510860561   整理番号：17A0214205

低V_ce(sat)IGBTのための3次元スケーリング原理の実験的検証【Powered by NICT】

Experimental verification of a 3D scaling principle for low V_ce(sat) IGBT

著者 (22件)： Kakushima K. (Tokyo Inst. of Technology, Yokohama, Japan) ,  Hoshii T. (Tokyo Inst. of Technology, Yokohama, Japan) ,  Tsutsui K. (Tokyo Inst. of Technology, Yokohama, Japan) ,  Nakajima A. (Nat. Inst. Advanced Industrial Science and Technology, Tsukuba, Japan) ,  Nishizawa S. (Nat. Inst. Advanced Industrial Science and Technology, Tsukuba, Japan) ,  Wakabayashi H. (Tokyo Inst. of Technology, Yokohama, Japan) ,  Muneta I. (Tokyo Inst. of Technology, Yokohama, Japan) ,  Sato K. (Mitusbishi Electric, Fukuoka, Japan) ,  Matsudai T. (Toshiba Corp., Tokyo, Japan) ,  Saito W. (Toshiba Corp., Tokyo, Japan) ,  Saraya T. (The University of Tokyo, Tokyo, Japan) ,  Itou K. (The University of Tokyo, Tokyo, Japan) ,  Fukui M. (The University of Tokyo, Tokyo, Japan) ,  Suzuki S. (The University of Tokyo, Tokyo, Japan) ,  Kobayashi M. (The University of Tokyo, Tokyo, Japan) ,  Takakura T. (The University of Tokyo, Tokyo, Japan) ,  Hiramoto T. (The University of Tokyo, Tokyo, Japan) ,  Ogura A. (Meiji University, Kawasaki, Japan) ,  Numasawa Y. (Meiji University, Kawasaki, Japan) ,  Omura I. (Kyushu Inst. of Technology, Kitakyushu, Japan) ,  Ohashi H. (Tokyo Inst. of Technology, Yokohama, Japan) ,  Iwai H. (Tokyo Inst. of Technology, Yokohama, Japan)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2016  号： IEDM  ページ： 10.6.1-10.6.4  発行年： 2016年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 市販品(k=1)に関して3(k=3)のスケーリング因子を持つ三次元(3D)スケールIGBTを初めて作製した。スケーリングはゲート電圧と同様に横方向と垂直方向の次元に適用した。抵抗の顕著な減少は, Vce(sat)還元からの1.70~1.26Vの3DスケールIGBTのための実験的に確認した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： *三次元 ,  *IGBT
準シソーラス用語： ゲート電圧 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： トランジスタ  (NC03070N)

タイトルに関連する用語 (7件)： SAT ,  IGBT ,  3次元 ,  スケーリング ,  原理 ,  実験 ,  検証